影像学在诊断新生儿损伤应用中的比较

新生儿脑损伤主要包括新生儿缺氧缺血性脑病（Hypoxic-ischemic encephalopathy，HIE）和颅内出血（intracranial haemorrhage，ICH）。HIE是新生儿在围产期窒息缺氧导致脑的缺氧缺血性损害，临床出现一系列脑病的表现^[1]，     

新生儿缺氧缺血性脑病的CT诊断——附70例分析

新生儿缺氧缺血性脑病（HIE）是指在围产期窒息缺氧导致脑缺氧缺血性损伤，临床出现一系列脑病的表现。本文对我院70例新生儿缺氧缺血性脑病的CT表现进行分析，以提高对本病的认识，现报告如下。     

新生儿缺氧缺血性脑病的防治

新生儿缺氧缺血性脑病（HIE）是指在围产期窒息而导致脑的缺氧缺血性损害。临床出现一系列脑病表现。本症不仅严重威胁着新生儿的生命,并且是新生儿期致残最常见的病因之一。新生儿缺氧缺血性脑病（HIE）是胎儿宫内窘迫以致生后严重窒息的主要并发症,也是威胁新生儿生命及导致神经后遗症的严重疾病。因此新生儿缺氧缺血性脑病的预防及治疗,不仅是降低新生儿病死率,     

纳洛酮治疗新生儿缺氧缺血性脑病40例疗效观察

新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)是指围生期窒息而导致脑组织缺氧、缺血损害，临床上出现一系列脑病表现。目前它仍是造成新生儿早期死亡及小儿智力低下的重要原因。为寻求本病的有效疗法，2002—2004年我院儿科应用纳洛酮注射液治疗40例新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)患儿，取得满意疗效，治疗中未发现不良反应，现将结果报告如下。     

新生儿缺氧缺血性脑病的护理体会

新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)是指围产期缺氧窒息导致脑的缺氧缺血性损害,是围产期新生儿最常见的中枢神经系统疾病,在临床上出现一系列脑病的表现,并可遗留有不同程度的神经系统后遗症。据国内外统计,HIE病因中80％由新生儿窒息引起,因此,新生儿窒息正确和规范的复苏护理直接关系到HIE的预防和预后。我科自1998年1月～2001年6月共收治     

CT在新生儿缺氧缺血性脑病中的诊断价值

新生儿缺氧缺血性脑病（HIE）是新生儿围产期窒息缺氧导致脑的缺氧缺血性损伤。临床出现一系列脑病的表现缺氧缺血是造成儿童死亡或致残的主要原因之一。CT能够对HIE作出早期诊断并分度，为临床治疗和评估预后提供可靠依据。     

新生儿缺氧缺血性脑病108例护理体会

新生儿缺氧缺血性脑病（HIE）是指由于围生期窒息缺氧,而导致脑组织缺氧缺血性损害,临床上在出生后出现一系列脑病症状,新生儿缺氧缺血性脑病是导致新生儿死亡和致残的最常见原因之一．重庆市九龙坡区第一人民医院2005年1月至2007年12月共收治HIE患儿108例,经过积极治疗及临床观察护理,大大降低了死亡率,取得了满意效果,现将护理体会报告如下．     

新生儿缺氧缺血性脑病的CT诊断

新生儿缺氧缺血性脑病(Hypoxic Ischemic Encephalopathy HIE)是新生儿窒息导致缺氧缺血性损害，临床出现一系列中枢神经系统异常的疾病。为提高认识以及临床评价预后提供客观依据，本文回顾分析15例HIE患者的脑部CT表现，着重讨论其形态学改变的CT表现及病理基础以及临床的关系。     

新生儿缺氧缺血性脑病68例临床与 CT 分析

新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)是指由于围产期窒息缺氧导致脑的缺氧缺血性损害，而出现的一系列脑病的表现，是住院新生儿中较常见的疾病。CT检查能进一步明确HIE病变的部位和范围，确定有无合并颅内出血和出血的类型。现将本院68例HIE的临床特点及CT特点观察资料报告如下。     

新生儿缺氧缺血性脑病早期防治与预后

新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)是指在围产期宫内缺氧窒息而导致的脑缺氧缺血性损害,临床上出现一系列脑病的表现HIE,多见于有严重窒息的足月新生儿,缺氧可能发生在产前,也可发生在产时,由于缺氧而引起脑组织病理性改变.脑水肿是其重要环节之在.HIE是转产期新生儿最常见的中枢神经系统疾病,由于部分患儿可在新生儿期后形成永久性神经缺陷,影响优生优育.     

新生儿缺氧缺血性脑病发病机理研究进展

新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)系指围产期窒息导致新生儿脑组织缺氧缺血，从而发生脑组织水肿、软化、坏死和出血性损害，临床出现一系列中枢神经系统异常的症状。HIE是导致新生儿死亡及影响神经系统预后的严重疾病。关于HIE的发病机理极为复杂，本综述近年对HIE机理研究的进展。     

新生儿缺氧缺血性脑病61例临床分析

新生儿缺氧缺血性脑病(简称HIE)是围产期新生儿窒息所致，以中枢神经系统的缺氧缺血性损害为主，临床出现一系列脑病症状的综合征。发病率及死亡率较高，存活者也多遗留严重的神经系统后遗症。因此，提高产科及儿科医生对此病的认识，不仅能降低发病率及死亡率，更重要的对于优生优育有着极其重要的     

新生儿缺氧缺血性脑病恢复期的CT表现

新生儿缺氧缺血性脑病（HIE）是指在围产期窒息缺氧导致脑的缺氧缺血性损害，临床出现一系列脑病的表现。CT检查目的是进一步明确HIE病变部位和范围，确定是否合并颅内出血和出血类型；动态系列检查对评估预后有一定意义，但关于HIE恢复期CT表现报道较少。现将我院108例HIE患儿追踪观察CT资料报告如下。     

新生儿缺氧缺血性脑病30例护理体会

新生儿缺氧缺血性脑病（HIE）是指因围产期窒息导致脑的缺氧性损害，出生后出现一系列脑病的表现，临床死亡率和致残率均较高。2001～2006年我院收治HIE患儿30例。现将其观察护理体会报道如下：     

新生儿窒息与缺氧缺血性脑病的相关性及治疗

新生儿缺氧缺血性脑病是指在围产期缺氧窒息而导致的脑缺氧缺血性损伤,临床出现一系列脑病的表现,发病率及死亡率较高。缺氧缺血性脑病主要见于严重窒息的足月儿,缺氧既可发生在产前,也可发生在产时。本文就我科2008年1月～2009年7月收治的15例HIE与窒息的相关性进行如下分析：     

新生儿缺氧缺血性脑病的治疗进展

新生儿缺氧缺血性脑病(hypoxic-ischeamia encephyalopathy,HIE)是指围产期窒息缺氧导致的脑缺氧缺血性损害而出现的一系列临床脑病表现,是新生儿时期危害最大的常见病之一,常可引起不可逆的组织损伤,从而引起一系列的神经系统后遗症.     

新生儿缺氧缺血性脑病的CT诊断体会

新生儿缺氧缺血性脑病 (hypoxic ischemic en-cephalopathy,HIE) ,系指围产期窒息所致新生儿脑部缺氧缺血性损伤 ,是引起脑瘫、智力低下及癫痫疾病的重要因素 ,是新生儿常见病以及死亡原因之一。新生儿缺氧缺血性脑病 (HIE)的早期诊断对临床治疗和预后评估有重要的指导意义。HIE的表现征象诊断 ,是目前专家认可的检查方法和较可靠的手段。现将 38例经行头颅 CT检查诊断为新生儿缺氧缺血性脑病 (HIE)的诊断体会进行分析报道如下。1　资料与方法　　选择 1 998年 8月～ 2 0 0 1年 2月因窒息、惊厥等住院的新生儿 ,经行头颅 CT检查诊断…     

新生儿缺氧缺血性脑病的治疗展望

新生儿缺氧缺血性脑病(hypoxic-ischeamia ence-phyalopathy,HIE)是指围产期窒息缺氧导致的脑缺氧缺血性损害而出现的一系列临床脑病表现,是新生儿期危害最大的常见病之一,常导致新生儿死亡和其后神经系统的发育障碍[1].     

新生儿缺氧缺血性脑病CT分型及其颅内出血CT表现

80例新生儿缺氧缺血性脑病（HIE）经临床和CT确诊，CT分为轻度、中度、重度3型，并分析颅内出血28例的CT表现。并对HIE及颅内出血CT表现形成机理及围产期窒息与新生儿缺氧缺血性脑病的关系进行讨论．     

新生儿缺氧缺血性脑病39例临床分析

新生儿缺氧缺血性脑病（hypoxic ischemic encephalopathy，HIE）是围产期新生儿因缺氧引起的脑部病变，是新生儿窒息后的严重并发症，病情重、病死率高。据报道HIE后遗症发生率为25％～35％。我院从2003～2005年共收治新生儿缺氧缺血性脑病39例，现报告如下。