首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
相似文献
 共查询到16条相似文献,搜索用时 421 毫秒
1.
目的通过定性与定量分析比较3种抛光方法对3种不同树脂表面粗糙度的影响。方法将3种不同类型的树脂制作成15个直径为5mm,厚度为3mm的圆柱本样本,随机分为3组:Sof—Lex抛光碟组.Brilliant Gloss橡皮抛光尖组,One Gloss橡皮抛光尖组。抛光后用轮廓测定仪在样本测试面中心区测表面粗糙度(Ra),然后每个小组中随机选取1个样本,采用原子力显微镜观察其表面微观形貌。结果Sof-Lex、One Gloss抛光后,3种不同树脂的Ra均值差异有统计学意义(P〈0.05)、单因素方差分析结果显示材料组之间、抛光方法组之间Ra均值差异均有统计学意义(P〈0.05),且组内两两比较结果显示同种树脂3种抛光方法之间Ra均值差异有统计学意义(P〈0.05):多因素方差分析结果显示材料类型和抛光方法均会影响树脂表面粗糙度,二者具有明显交互作用(P〈0.01)原子力显微镜观察结果显示Sof-Lex和BrilliantGloss抛光后树脂表面相对均一,OneGloss抛光后树脂表面有划痕、空穴、填料颗粒突出等结构。结论3种树脂之间、3种不同抛光方法之间Ra均值差异均存在统计学患义,抛光效果具有材料依赖性。  相似文献   

2.
目的 了解复合树脂经温度循环老化作用后表面粗糙度的变化,分析复合树脂组成成分和工艺对其表面粗糙度的影响,为临床选择和应用复合树脂材料提供指导.方法 选用复合树脂A(Clearfil AP-X,Kurary)、B(Filtek P60,3M ESPE)、C(Filtek P90,3M ESPE)和D(Clearfil MAJESTY,Kurary)制成试样,每组5个样本,在抛光即刻和经10000次及20000次温度循环(55℃和5℃,30s)处理后,用表面粗糙度仪检测试样,获得表面粗糙度Ra值,并进行统计学分析.结果 抛光即刻树脂A的Ra值[(0.16±0.03)μm]显著高于树脂B[(0.09±0.01)μm]、树脂C[(0.09±0.02)μm]和树脂D[(0.08±0.02)μm](P<0.05),树脂B、C、D的Ra值差异无统计学意义(P>0.05);4种树脂在温度循环10 000次后的Ra值均无变化(P >0.05);20 000次温度循环后,树脂A的Ra值显著增高[(0.20±0.02) μm]较抛光后即刻[(0.16±0.03)μm]和10000次温度循环后[(0.17±0.03) μm]显著增高(P<0.05),其他3种树脂Ra值仍无显著变化(P>0.05).结论 短期温度循环老化作用不会导致复合树脂表面粗糙度变化,延长老化时间后大颗粒玻璃填料树脂表面粗糙度增加;纳米工艺可显著改善树脂表面粗糙度;新型硅氧烷类树脂的表面粗糙性表现良好.  相似文献   

3.
目的:研究消毒液和表面活性剂对改良型硅橡胶印模表面润湿性的影响。方法:选取临床上常用的6种改良型硅橡胶印模材料(Novo、Sflagum、EliteHD+、Xantopren、OranwashVL、Rapid),各制取40个正方形薄片试样并将其随机平均分为A、B、C、D四组。A组:空白对照组;B组:表面活性剂处理;C组:2%碱性戊二醛消毒处理;D组:2%碱性戊二醛消毒后表面活性剂处理。通过测定试样在饱和石膏浆溶液中的前进接触角,来评价消毒液和表面活性剂处理对改良型硅橡胶印模表面润湿性的影响。结果:(1)除Novo组外,其余5种印模材料经表面活性剂处理后,前进接触角减小,与空白组存在统计学差异(P〈0.05);(2)6种材料经消毒处理后,前进接触角增大,与空白组存在统计学差异(P〈0.05);(3)Xantopren、Rapid经消毒液及表面活性剂处理后,前进接触角减小,与空白组存在统计学差异(P〈0.05),其余4种材料的前进接触角与空白组不存在统计学差异(P〉0.05)。结论:(1)消毒处理降低了临床常用的改良型硅橡胶印模的表面润湿性;(2)表面活性剂处理增加了临床常用的改良型硅橡胶印模的表面润湿性,并且完全抵消或改善了消毒处理所产生的不良影响。  相似文献   

4.
目的:探讨抛光工具对树脂表面微观结构的影响并与离体天然牙釉质表面进行比较。方法:将5种树脂试件(n=9)随机各分为3组(n=3):Astropol抛光(A)组、Sof-Lex抛光(B)组、Super-snap抛光(C)组,分别进行抛光,对照(D)组为离体牙釉质表面。原子力显微镜测试试件表面粗糙度和微观结构。结果:抛光后A组的Ra值低于B组(P=0.015);Z350 XT树脂抛光后获得的Ra值最低(P<0.05);用3种不同的抛光工具抛光5种不同的树脂与对照组的Ra值比较无统计学差异(P>0.05)。结论:Astropol抛光工具效果优于Sof-Lex;Z350 XT与其它4种树脂相比有更好的抛光性能;3种抛光工具对5种树脂抛光均有效。  相似文献   

5.
叶芳  廖小平  杨健  李金鹏  朱洪水 《口腔医学》2009,29(7):340-341,351
目的对比评价4种喷砂砂粒对牙体表面粗糙度的影响。方法选择因正畸需要拔除的前磨牙20颗,将本实验的4种喷砂材料分成A(30μm Al2O3)、B(120μm NaHCO3)、C(50μm NaHCO3)和D(50μm Al2O3)四组,每牙的4个面随机分到A、B、C和D四组中。实验前测量各牙表面牙釉质粗糙度值,记为Ra1。在相同的条件下进行喷砂洁治,测量记录其粗糙度为Ra2。然后对各实验牙面用橡皮杯和抛光糊剂作抛光处理,再次测量表面粗糙度,记为Ra3。结果A、B、C组Ra3与Ra1相近(P>0.05),D组Ra3明显大于Ra1(P<0.05)。四组间Ra1无明显差异(P>0.05);D组Ra2、Ra3分别明显大于A、B、C组Ra2和Ra3(与A、B比较,P<0.05;与C比较,P<0.01)。结论50μm Al2O3砂粒对牙釉质喷砂抛光处理后不能达到临床要求。  相似文献   

6.
目的:采用临床上常用的3种充填用光固化复合树脂进行抛光后对比研究,为临床医师选择适当的牙体充填材料提供指导。方法:选择3种临床常用的前后牙通用光固化型复合树脂(Filtek Z250,Spectrum TPH,CHARISMA),均用Sof-lex抛光系统修整、抛光,扫描电镜观察抛光前和抛光后的表面形态,并用表面粗糙度仪测定其粗糙度,对检测结果进行统计学分析。结果:3种复合树脂经同一种抛光系统处理后粗糙度值均增大,不同复合树脂之间的两两比较显示存在显著性差异;Filtek Z250组表面粗糙度值(Surface Roughness,Ra)无论抛光前后,均较其他两种树脂的Ra值小。结论:用Sof-lex抛光系统修整、抛光,Filtek Z250在三种复合树脂中有较/最佳的抛光性能。  相似文献   

7.
目的:研究冷热循环老化对可切削复合树脂材料粗糙度的影响。方法以可切削复合树脂A( Lava Ultimate ,3M ESPE)、B(High-Class, AMBORINO)、C(Hyramic 润瓷, Upcera)为实验组,以光固化复合树脂 D ( Ceramage, Shofu)和二硅酸锂玻璃陶瓷E( UP-CAD, Upcera)为对照组,分别在老化前和经5000及10000次冷热循环后测量表面粗糙度( Ra),并观察表面形貌,进行统计学分析。结果在老化前,D和E组间Ra值差异有统计学意义(P<0.05),其余各组间Ra值差异均无统计学意义。经冷热循环老化实验,A、B、C和E四组材料冷热循环前后材料表面粗糙度Ra值的差异均无统计学意义;D组材料冷热循环前后,材料表面粗糙度Ra值的差异有显著统计学意义(P<0.001)。结论经冷热循环老化后,可切削复合树脂和玻璃陶瓷表面粗糙度较为稳定,而光固化复合树脂粗糙度增加。  相似文献   

8.
《口腔医学》2017,(4):311-314
目的研究不同砂粒粒径抛光碟对复合树脂抛光效果的影响。方法将复合树脂(Filtek~(TM) Z350)试件(n=50)随机分为5组(n=10):抛光车针组(A组)、70μm粒径组(B组)、50μm粒径组(C组)、30μm粒径组(D组)、5μm粒径组(E组),分别进行序列抛光。扫描电镜观察试件粗糙度及表面结构。计算不同试件表面的细菌粘附情况。结果扫描电镜观察,随着抛光碟砂粒粒径的降低,序列抛光到D组(30μm粒径)后,树脂试件表面沟痕明显变浅,凹坑减少。D组和E组的细菌粘附量与A组相比存在统计学差异(P<0.005);B、C组与A组的细菌粘附量比较无统计学差异(P>0.005)。结论随着抛光碟砂粒粒径的减少,表面粗糙度降低,细菌粘附量下降;树脂材料表面至少序列抛光到30μm粒径才能有效减少细菌粘附量。  相似文献   

9.
目的:采用临床上常用的3种充填用光固化复合树脂,经过3种不同抛光系统处理后,观测其表面粗糙度的变化。方法:选择3种临床常用的前后牙通用光固化型复合树脂(FiltekZ250,SpectrumTPH,CHARISMA),分别用3种抛光系统(sof—lex,Enhance,Super—Snap)修整、抛光,应用表面粗糙度仪测定其粗糙度,扫描电镜观察抛光后的表面形貌,然后对检测结果进行统计学分析。结果:3种复合树脂经不同抛光系统处理后,两因素析因设计方差分析检验树脂材料和抛光系统之间的相互关系,结果显示,二者之间具有交互作用。用Sof—lex处理FiltekZ250树脂可获得最低的Ra值,但Super-snap抛光套装处理各种复合树脂组间无显著差异,均能达到较低的粗糙度值。结论:(1)临床上常用的3种光固化复合树脂材料中,FiltekZ250与SpectrumTPH、CHARISMA相比有更好的抛光性能,可形成比较平整光滑的表面;(2)不同抛光系统和不同树脂之间存在交互作用,Sof-lex和Super—snap最适宜处理FiltekZ250树脂,抛光后的表面光滑;Super-snap抛光系统对3种不同复合树脂进行处理后,均能达到较低的粗糙度值,明显优于其它2种抛光系统。  相似文献   

10.
目的:研究早期釉质龋形成后,渗透树脂治疗后不同抛光处理对其表面粗糙度的影响,为临床治疗中选择合适的抛光系统提供参考。方法:制取牛下切牙唇面样本54个,随机分为6组,设健康釉质组、早期釉质龋组,其余4组先用部分饱和酸缓冲系统形成早期釉质龋,然后进行渗透树脂治疗,根据抛光与否和抛光工具种类(橡皮杯、抛光碟、矽粒子)进行分组。采用表面粗糙度轮廓仪PGI800测量各组样本的表面粗糙度,表面粗糙度参数取轮廓算术平均偏差(Ra)和轮廓最大高度(Rz)。采用SPSS17.0软件包对数据进行统计学分析。结果:早期釉质龋组较健康釉质组表面粗糙度均值略大,但无显著差异(P>0.05);早期釉质龋渗透树脂治疗后,不抛光组表面粗糙度显著高于早期釉质龋组(P<0.05);渗透树脂治疗后,3种不同工具抛光组之间两两比较,表面粗糙度无显著差异(P>0.05);各抛光组较未抛光组表面粗糙度均减小,差异显著(P<0.05);各抛光组与早期釉质龋组相比,表面粗糙度均无显著差异(P>0.05)。结论:早期龋进行渗透树脂治疗后,表面粗糙度明显升高,需要进行抛光处理,使用橡皮杯和粒度较小的抛光碟抛光,是较有效的表面处理方法。  相似文献   

11.
目的:探讨不同抛光处理方法对烤瓷表面粘结的托槽去除后,瓷表面抛光后粗糙度的影响。方法:采用不同方法粘结托槽:A组(氢氟酸+陶瓷偶联剂+釉质粘结剂);B组(氢氟酸+釉质粘结剂);C组(陶瓷偶联剂+釉质粘结剂)。烤瓷片表面不同方法粘结托槽经剪切去除后,测定瓷面采用不同步骤抛光处理前后及对照组的瓷片表面粗糙度值。结果:抛光前A、B组间差异无统计学意义(P>0.05),C组小于A、B组,差异有统计学意义(P<0.05);抛光过程中各组间差异无统计学意义(P>0.05);各组抛光前后比较差异有统计学意义(P<0.01);抛光后各组间比较差异无统计学意义(P>0.05),都达到了对照组水平(P>0.05)。结论:机械打磨、氢氟酸、陶瓷偶联剂对瓷表面粗糙度的影响依次递减,抛光套装依序抛光对降低表面粗糙度行之有效,抛光后能使托槽去除后瓷表面粗糙度达到对照组水平。  相似文献   

12.
Purpose : This study was undertaken to examine the effect of three different polishing systems on surface roughness of five newly developed resin composites.
Materials and Methods : Three microhybrid composites (Point 4™, Kerr, Orange, CA; Esthet-X™, Dentsply/Caulk, Milford, DE; Vitalescence®, Ultradent, South Jordan, UT, USA), one microfilled composite (Renamel Microfill®, Cosmedent, Chicago, IL, USA), and one experimental micro-hybrid composite (FZB, Ivoclar Vivadent, Schaan, Liechtenstein) were light cured with a Mylar strip. Fifteen specimens of each composite (6 mm in diameter and 3 mm in depth) were fabricated and randomly assigned to three groups. Specimens in each group were finished with a carbide bur (16 fluted) and three polishing systems (Astropol®, Ivoclar Vivadent; Diagloss®, Axis Dental, Irving, TX, USA; Sof-Lex™, 3M, ESPE, St. Paul, MN, USA). The average surface roughness (Ra) and the mean peak spacing (Sm) were measured with a surface profilometer after polishing. Five tracings at different locations on each specimen were made. Data were analyzed by analysis of variance.
Results : For Astropol, Ra ranged from 0.10 to 0.15 um and Sm ranged from 24 to 40 um for the five composites; for Diagloss, Ra ranged from 0.24 to 0.34 um and Sm from 38 to 74 urn; for Sof-Lex, Ra ranged from 0.06 to 0.10 um and Sm ranged from 16 to 22 um. Significant differences between materials and polishing systems were observed. Polishing systems had the most important role in determining the surface roughness of resin composites.
CLINICAL SIGNIFICANCE
Of the polished systems tested, Sof-Lex discs provided the lowest roughness for polishing microfilled and microhybrid composites, and the microfilied resin composite showed the lowest roughness.  相似文献   

13.
This study evaluated the surface finish of three direct resin composites polished with three different systems. Disk-shaped specimens (n=16 per material; phi=8.0 mm x h=2.0 mm) were formed in a stainless steel mold by packing uncured material, either a hybrid composite (Z250, 3M ESPE) or two micro-hybrid composites (Point 4, Kerr; Esthet-X, Dentsply), and light-cured from the top and the bottom surfaces with a light-emitting diode (LED) curing unit (NRG, Dentsply). After storing the specimens in deionized water at 37 degrees C for seven days, one side of each specimen was finished through 1200-grit SiC abrasive (Buehler). Five specimens of each resin composite were randomly assigned to one of the three polishing systems (Identoflex, Kerr; Pogo, Dentsply; Sof-Lex, 3M ESPE). Manufacturers' instructions were followed during the polishing procedures. The average surface roughness (Ra) was determined by generating tracings across the polished surface of each disk using a scanning profilometer (Surfanalyzer System 5000, Federal Products Co). The results were analyzed by Kruskal-Wallis and Mann and Whitney tests (p < or = 0.05). The smoothest surfaces were produced with the celluloid strip (control group) on all the resin composites tested. The aluminum oxide disks (Sof-Lex) produced a statistically equivalent surface finish (Ra) on the three resin composites. The lowest mean roughness values were recorded with diamond micropolisher disks (PoGo) on the hybrid composite (Z250). Overall, the two new polishing systems, Identoflex and PoGo, created a comparable surface finish to that produced by the Sof-Lex system on all three resin composites.  相似文献   

14.
目的 评价表面抛光对3种直接修复用牙色材料粗糙度及表面能的影响,以期为临床提供参考.方法 选用3种直接修复用牙色材料,复合树脂(CR)( Fihek Z350,3M ESPE,America)、玻璃复合体(Giomer)(Beautifil Ⅱ,Shofu,Japan)和树脂改性玻璃离子(RMGIC)(FujiⅡLC,GC,Japan),分别放入预制模具中(8 mm×8 mm×2 mm),材料表面使用聚酯膜覆盖,每种材料制作试件14个,光照固化后,用抛光碟进行序列抛光(灰60μm→紫30μm→绿20 μm→红7μm).抛光前后检测表面粗糙度(Ra)及表面能(γSTOT),并对结果进行统计学分析.结果 抛光前CR和Giomer的Ra[分别为(0.098 ±0.019)、(0.093±0.020) μm]和γSTOT[分别为(31.78 ±2.14)、(32.63±2.12) mN·m-1]均显著低于RMGIC[Ra及γSTOT分别为(0.134±0.019) μm和(40.22±1.05) mN· m-1],P<0.05.抛光后3种材料的Ra均增大,CR[ (0.141±0.018) μm]<Giomer[ (0.185 ±0.013) μm]<RMGIC[(0.494±0.075) μm],3种材料间差异有统计学意义(P<0.05);3种材料γSTOT均降低,Giomer [(26.60±5.61) mN· m-1] <CR[ (29.16±5.73) mN· m-1] <RMGIC[ (32.30±3.83) mN· m-1],3种材料间差异有统计学意义(P<0.05).结论 直接修复用牙色材料抛光后的表面粗糙度及表面能与材料种类密切相关.  相似文献   

15.
目的    比较临床上5种常用抛光方法对IPS e.max Press玻璃陶瓷调磨后表面粗糙度的影响。方法    选取临床常用修复材料IPS e.max Press玻璃陶瓷制作试件30个,随机分成6组(每组5个试件),分别为对照组(常规上釉)、砂石组(绿色碳化硅砂石+氧化铝白砂石依次混合打磨抛光)、松风组(松风Ceramaster精细烤瓷砂石抛光)、EVE组(EVE氧化锆砂石抛光)、道邦组(道邦弹性瓷砂石抛光)、3M组(3M Sof-LexTM抛光套装)。常规调磨后按照各自不同的整体抛光打磨方法分别对试件表面依次进行抛光,扫描电镜下观察各组抛光后试件的表面形态,检测各组抛光后试件的表面粗糙度Ra值。结果 扫描电镜下观察可见3M组和道邦组抛光后试件表面较为平整光滑,划痕较少,与对照组类似;而砂石组和松风组试件表面划痕明显并伴有明显的凹坑;EVE组划痕较少且划痕条纹较平整,方向一致,有少许凹痕较对照组明显。各组抛光后试件的表面粗糙度Ra值由小到大顺序排列为:3M组[(0.207 ± 0.016)μm]、对照组[(0.208 ± 0.015)μm]、道邦组[(0.216 ± 0.025)μm]、EVE组[(0.315 ± 0.017)μm]、松风组[(0.375 ± 0.030)μm]、砂石组[(0.379 ± 0.017)μm];砂石组、松风组、EVE组Ra值均明显大于对照组(均P < 0.05),而3M组、道邦组与对照组之间的差异无统计学意义(P > 0.05)。结论 5种抛光方法均能有效改善玻璃陶瓷表面粗糙度,不同抛光方法对IPS e.max Press玻璃陶瓷的抛光效果有一定的差异,以3M Sof-LexTM抛光套装抛光效果较佳。  相似文献   

16.
目的 比较不同表面处理对Sirona CEREC Blocs陶瓷表面粗糙度的影响.方法 按照不同的表面处理方式将试件分为7组:对照组(A)、自身上釉组(B)、釉膏上釉组(C)、2组不同松风抛光方案组(D、E),2组不同EVE抛光方案组(F、G),测量试件表面处理后的粗糙度值,体视显微镜定性分析试件表面形貌.结果 各组粗糙度值依次为:A组(0.139±0.010)μ m、B组(0.129±0.006)μm、C组(0.090±0.029) μm、D组(0.145±0.009)μ m、E组(0.101±0.007)μ m、F组(0.172±0.016)μ m、G组(0.278±0.027)μ m;A组与C组、D组与E组、D组与G组、E组与F组、E组与G组及F组与G组之间均有显著性差异(P<0.05),A组与B组、C组与E组及D组与F组之间均无统计学差异(P>0.05):体视显微镜分析结果与粗糙度值分析结果一致.结论 釉膏上釉较其它表明处理方式效果好,不同的抛光工具对Sirona CEREC Blocs陶瓷的抛光效果不同,其中松风抛光工具抛光效果堪比釉膏上釉的效果.  相似文献   

设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号