不同器械邻面去釉抛光前后釉质表面粗糙度的比较

目的通过离体牙的邻面去釉实验,比较不同器械邻面去釉抛光前后对釉质表面粗糙度的影响。方法选择因正畸需要拔除的前磨牙60颗,随机分为6个组。各组采用不同的去釉器械进行邻面去釉,Ⅰ:金钢砂车针(medium);Ⅱ:金钢砂车针(fine);Ⅲ:金钢砂条(medium);Ⅳ:金钢砂条(fine);Ⅴ:金钢砂盘;Ⅵ:对照组(未去釉组)。去釉完成后实验组随机选一个面使用Sof-Lex抛光系统对去釉面进行抛光。用激光共聚焦显微镜分别检测去釉面和抛光面的表面粗糙度并观察其表面形貌。并采用SPSS 18.0统计软件对结果进行单因素方差分析。结果①邻面去釉后未抛光时Ⅰ组和Ⅲ组表面粗糙度最大,两者之间没有统计学差异(P=0.632),其次是Ⅱ、Ⅳ、Ⅴ组,且均高于Ⅵ组。②邻面去釉抛光后Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ、Ⅴ组表面粗糙度显著降低,组间无统计学差异,且均小于Ⅵ组。③激光共聚焦显微镜观察:邻面去釉后实验组均在去釉区釉质表面留下了划痕,Ⅰ、Ⅱ组比Ⅲ、Ⅳ、Ⅴ形成的划痕更深,Ⅴ组形成的划痕最浅;邻面去釉抛光后Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ、Ⅴ组无明显差异,Sof-Lex抛光系统基本消除了邻面去釉操作在去釉区釉质表面留下的划痕。结论①不同的邻面去釉器械会不同程度地增加釉质表面的粗糙度,金钢砂车针(medium)和金钢砂条(medium)去釉后釉质表面粗糙度最大,其次是金钢砂车针(fine)、金钢砂条(fine),金钢砂盘去釉后釉质的表面粗糙度最小。②不同的邻面去釉器械去釉后使用Sof-Lex抛光系统抛光会降低釉质的表面粗糙度,各组间无差异,且均低于未去釉的釉质表面粗糙度。     

腭部不同类型快速扩弓配合前方牵引的应用进展

上颌快速扩弓配合前方牵引面具是早期治疗上颌骨发育不足的骨性安氏Ⅲ类错常见方法之一。传统方法常用牙和黏膜支持式装置治疗替牙期及恒牙早期的骨性Ⅲ类患者,随着种植支抗的发展,种植钉被广泛应用于正畸治疗中,展示出稳定的骨性支抗效果。本文将对腭部不同类型快速扩弓配合前方牵引技术作一简要综述,为临床治疗提供参考。     

切牙管及其与上颌中切牙位置关系的研究进展

上颌中切牙的矢状向位置决定了正畸患者的侧貌美观,在正畸临床诊疗中,上颌前突患者一般需要通过减数四个前磨牙进行矫治,以最大支抗内收上下颌前牙,来改善侧貌,解决突度问题。传统支抗正畸手段可以使上颌中切牙内收5.78mm,而种植支抗可以使上颌中切牙的最大内收量增大至8mm,但是在上颌前牙内收的过程中,少数上颌中切牙会侵犯上颌骨一个重要的解剖结构——切牙管,从而导致牙根吸收,牙齿松动等并发症的出现。因此本文就切牙管及其与上颌中切牙位置关系的研究进展做一综述。     

拔除两颗上颌中切牙矫治深覆盖1例

<正>一、资料和方法1.临床资料患者，男，10岁。主诉：上牙前突，开唇露齿。有母系家族史。患者曾行腺样体及扁桃体切除术，4年前11、21外伤。不良习惯：张口呼吸。无正畸治疗史。目前患者全身健康状况良好。2.临床检查（1）面部检查：患者颏部左偏且发育不足；上唇前凸，放松状态下开唇露齿；闭唇时颏肌紧张；