铅接触及铅中毒工人外周血T细胞CD3ζ基因的表达特点

目的 了解铅接触及铅中毒工人外周血中T细胞信号传导分子CD3 ζ基因表达水平,为铅接触和铅中毒工人免疫系统损害的机制提供资料.方法 利用SYBR Green Ⅰ荧光定量PCR分别检测10例铅接触工人、6例铅中毒工人和20例正常人外周血单个核细胞的CD3 ζ基因表达情况,以β2微球蛋白基因(β2M)作为内参,根据相对定量公式(2-△Ct)计算铅接触、铅中毒工人与正常人CD3 ζ基因表达水平差异.结果 正常人、铅接触和铅中毒工人外周血CD3 ζ基因表达水平分别为(3.01±2.11)、(11.4±13.3)和(2.42±3.01).与正常人相比,铅接触工人外周血CD3 ζ基因表达上升(P<0.05).与铅接触工人相比,铅中毒工人CD3 ζ基因表达下降(P<0.05).结论 铅接触及铅中毒工人中外周血T细胞CD3 ζ基因表达异常,提示机体接触铅后T细胞活化过程存在障碍.     

母亲教养方式与高中生自杀意念关系

目的 了解母亲教养方式与高中生自杀意念的关系,为青少年自杀干预研究提供科学依据.方法 采用自编青少年不良行为调查表和母亲教养方式问卷,对随机抽取广东省广州市787名高中生进行调查.结果 广州市高中生自杀意念发生率为10.67%;女生自杀意念发生率高于男生(x2=9.58,P=0.002);自评学习成绩不同等级高中生自杀意念发生率差异有统计学意义(x2=14.51,P=0.001);有自我伤害行为的高中生自杀意念发生率高于无自我伤害行为者(x2=39.12,P=0.001);有自杀意念高中生的母亲更多采用过干涉过保护(t=2.52,P=0.013)和拒绝否认(t=3.33,P=0.001)的教养方式;多因素Logistic回归分析结果表明,母亲教养方式为拒绝否认(OR=1.109)是高中生自杀意念发生的危险因素.结论 不良的母亲教养方式是高中生自杀意念的危险因素.     

下调PPP2R5C表达对Jurkat细胞GSK-3β、MDM2、pTEN、TP53通路相关调控基因表达谱的影响

目的 利用基因芯片技术研究RNA干扰下调PPP2R5C对Jurkat细胞中GSK-3β、MDM2、pTEN、TP53通路相关基因表达的影响。方法 利用核转染技术将PPP2R5C-siRNA799转导Jurkat细胞,培养48 h后,提取细胞总RNA,纯化mRNA后反转录制备目标序列,与Affymetrix基因表达谱芯片3’IVT杂交,以Affymetrix GeneChip Scanner 3000扫描仪扫描得到原始图像数据,并应用GeneSpringGX 11.0软件进行差异表达谱分析。结果 基因芯片分析GSK-3β、MDM2、pTEN、TP53信号通路相关的47个基因,发现全部基因发生了差异表达,其中上调基因有22个,下调基因有25个。明显上调的基因有SNAI1、APC、CDKN1A、ATM、MDM2和pTEN,而明显下调的基因只有GSK-3β。结论 下调Jurkat细胞PPP2R5C基因时,在一定程度上选择性调节涉及细胞增殖和凋亡相关的GSK-3β、MDM2、pTEN和TP53信号通路基因的表达,从而抑制Jurkat细胞增殖。     

下调PPP2R5C表达对Jurkat细胞TAL1相关调控基因表达谱影响的初步分析

目的:前期研究显示,下调PPP2R5C表达能抑制T细胞白血病细胞株Jurkat细胞增殖。本研究利用基因芯片技术分析RNA干扰下调PPP2R5C表达对Jurkat细胞中TAL1通路相关基因的影响。方法:利用核转染技术将PPP2R5C-siRNA799转导Jurkat细胞,培养48 h后,提取细胞总RNA,纯化mRNA后逆转录制备目标序列,与Affymetrix基因表达谱芯片3'IVT杂交,以Affymetrix Gene Chip Scanner 3000扫描仪扫描得到原始图像数据,并应用Gene spring GX 11.0软件进行差异表达谱分析。结果:基因芯片分析的TAL1信号通路相关的26个基因全部发生了差异表达,其中上调表达的基因有15个,下调表达的基因有11个;明显上调表达的基因有GATA1、TCF4、XRCC6和TCF3,而明显下调表达的基因有SIN3A和RUNX1。结论:下调Jurkat细胞PPP2R5C基因表达,在一定程度上能抑制TAL1信号通路基因,从而抑制Jurkat细胞增殖。     

铅接触及铅中毒工人外周血单个核细胞TCRVγ基因表达的变化

目的:了解铅接触及铅中毒工人外周血中T细胞抗原受体(TCR)的Vγ基因表达水平。方法:利用SYBR GreenⅠ荧光定量PCR分别检测12例铅接触工人、8例铅中毒工人和20例正常人外周血单个核细胞中TCRVγ基因表达情况,以β2微球蛋白基因(β2M)作为内参,根据相对定量公式(2-△Ct×100%)计算铅接触、铅中毒工人与正常人的TCR VγⅠ、TCR VγⅡ和TCR VγⅢ基因表达水平差异。结果:正常人、铅接触和铅中毒工人外周血的TCR VγⅠ基因表达水平的中位数分别为0.79%、1.22%和0.96%;TCR VγⅡ基因表达水平分别为0.94%、1.26%和2.74%;TCR VγⅢ基因表达水平分别为0.46%、0.43%和1.04%。与正常人相比,铅中毒工人的TCRVγⅡ基因表达显著上升(P<0.05)。结论:铅接触及铅中毒工人中外周血TCRVγ基因表达异常。