首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 250 毫秒
1.
目的:观察安氏Ⅰ类错耠拔除上颌第一前磨牙,下颌第二前磨牙后对支抗的不同需求,以及对咬合关系的影响.方法:选择安氏Ⅰ类错(牙合)需减数治疗病例25例,拔除上颌第一前磨牙,下颌第二前磨牙后,常规直丝弓矫治器矫治.结果:25例均获得正常覆(牙合)覆盖,尖牙和磨牙中性关系,患者侧貌发生明显改变.结论:安氏Ⅰ类错(牙合)非常规拔牙模式可消耗下颌支抗,保护上颌支抗,更好地维护了磨牙的中性关系,使疗程缩短.  相似文献   

2.
目的:观察安氏I类错[牙合]拔除上颌第一前磨牙,下颌第二前磨牙后对支抗的不同需求,以及对咬合关系的影响。方法:选择安氏I类错[牙合]需减数治疗病例25例,拔除上颌第一前磨牙,下颌第二前磨牙后,常规直丝弓矫治器矫治。结果:25例均获得正常覆耠覆盖,尖牙和磨牙中性关系,患者侧貌发生明显改变。结论:安氏I类错[牙合]非常规拔牙模式可消耗下颌支抗,保护上颌支抗,更好地维护了磨牙的中性关系,使疗程缩短。  相似文献   

3.
目的:分析安氏Ⅰ类错第一磨牙缺失的病人矫治前后面部高度变化,了解第一磨牙缺失后对面部高度的影响。方法:选择15例安氏Ⅰ类错第一磨牙缺失的病人为实验组,采用拔除未缺牙侧的第一前磨牙,用方丝弓矫治技术近移第二磨牙;对照组为未缺失第一磨牙的安氏Ⅰ类错拔除4个第一前磨牙的15例病人,对矫治前后X线头颅侧位片进行分析。结果:两组病人的头影测量结果统计学分析显示矫治后面部高度两组均呈显著性增加且两组之间差异无统计学意义。结论:安氏Ⅰ类错第一磨牙缺失与否经正畸拔牙矫治后对面部高度均增加且无明显差异。在正畸治疗中不但要增强磨牙的前后向支抗,还要重视垂直向支抗。  相似文献   

4.
安氏Ⅰ类拥挤拔牙矫治后磨牙及切牙位置变化的研究   总被引:4,自引:0,他引:4  
目的 :探讨安氏I类错牙合牙列拥挤经拔除 4个第一前磨牙矫治后磨牙及切牙位置的变化。方法 :选用泸州医学院附属口腔医学院正畸科连续收治的安氏I类错牙合牙列拥挤患者 2 0例 (男 8,女 12 ) ,年龄 14~16岁。均采用拔除 4个第一前磨牙 ,用方丝弓细丝弓技术矫治 ,牙性支抗。在矫治前后摄X线头颅定位侧位片 ,对磨牙及切牙位置进行测量比较分析。结果 :上颌磨牙牙冠平均前移 3 .15mm ,上颌切牙牙冠平均后移 2 .5 5mm ;下颌磨牙牙冠平均前移 4.3mm ,下颌切牙牙冠平均后移 1.78mm。结论 :牙性支抗 (弱支抗 )控制下 ,安氏Ⅰ类错牙合牙列拥挤拔牙矫治后上下磨牙及切牙位置均有明显变化 ,且相对RL线磨牙前移较切牙后移更大。  相似文献   

5.
目的观察种植体支抗治疗安氏Ⅱ类Ⅰ分类错畸形的临床疗效。方法回顾性分析48例安氏Ⅱ类Ⅰ分类错患者,分为A、B 2组,每组24例。排齐牙列后,A组于上颌双侧第一磨牙和第二前磨牙牙根之间或第一磨牙和第二磨牙牙根之间植入自攻微型种植体作为支抗,B组常规制作上颌横腭杆加Nance弓。分析2组治疗前后头影和模型测量指标的变化。结果矫治结束后,A组的SNA、ANB、Ls-E、、U1-SN、U1-L1、U1-NA、U1-PP、U6-PP(°)及OJ值的变化较B组明显,2组间差异有统计学意义。结论与传统的上颌横腭杆加Nance弓作为支抗相比,微型种植体支抗能更有效地改善安氏Ⅱ类Ⅰ分类错颌畸形患者的面形凸度及覆、覆盖关系。  相似文献   

6.
目的用回顾分析方法,评价拔除上颌第一前磨牙及下颌第二磨牙矫治骨性Ⅱ类高角型开的临床疗效。方法选取12例骨性Ⅱ类开病例,男4例,女8例,平均年龄15.6岁,拔除上颌第一前磨牙及下颌第二磨牙后,使用直丝弓矫治技术对其进行矫正治疗。治疗前后拍摄X线头颅侧位片,并对其进行头影测量分析。结果矫正治疗结束后,12例患者均取得了满意的治疗效果,侧貌明显改善,覆覆盖正常,平面发生逆时针旋转,下颌平面角变小。结论拔除上颌第一前磨牙及下颌第二磨牙矫治骨性Ⅱ类开临床疗效可靠,效果较稳定。  相似文献   

7.
目的 探讨安氏Ⅱ1类错拔牙矫治中 ,上下颌磨牙及切牙的位置变化。方法 选择 15名11— 16岁拔除四个第一双尖牙的安氏Ⅱ1类错病例 ,用方丝弓矫治技术 ,口外力加强上颌磨牙支抗 ,治疗前及以间断力后移上颌尖牙到与第二双尖牙接触时 ,进行X线头影测量及统计分析。结果 上颌磨牙前移了 0 9mm ,比下颌磨牙整体前移少约 2mm ;上切牙舌侧斜移动了 4 1mm ;下切牙舌向移动了 1 8mm ,比上颌磨牙前移少 1mm。结论 控制上颌磨牙支抗并增大弓丝的滑动 ,可使上颌切牙在未主动内收前舌向移动 ;减少下颌尖牙的后移则有利于下颌磨牙的前移  相似文献   

8.
目的:分析安氏Ⅰ类错[牙合]第一磨牙缺失的病人矫治前后面部高度变化,了解第一磨牙缺失后对面部高度的影响。方法:选择15例安氏Ⅰ类错[牙合]第一磨牙缺失的病人为实验组,采用拔除未缺牙侧的第一前磨牙,用方丝弓矫治技术近移第二磨牙;对照组为未缺失第一磨牙的安氏Ⅰ类错[牙合]拔除4个第一前磨牙的15例病人,对矫治前后X线头颅侧位片进行分析。结果:两组病人的头影测量结果统计学分析显示矫治后面部高度两组均呈显著性增加且两组之间差异无统计学意义。结论:安氏Ⅰ类错[牙合]第一磨牙缺失与否经正畸拔牙矫治后对面部高度均增加且无明显差异。在正畸治疗中不但要增强磨牙的前后向支抗,还要重视垂直向支抗。  相似文献   

9.
目的:探讨前牙比正常的安氏3种分类经不同的拔牙模式治疗后全牙比的变化。方法:选取252例前牙比正常的患者模型,计算各组拔牙前和模拟4种模式拔牙后的全牙比,了解其变化规律。结果:相同拔牙模式的3种错牙合组矫治后的全牙比之间无大的差别;与拔牙前相比较,3种错牙合组拔牙后的全牙比均有所减小;在安氏Ⅰ类组与Ⅲ类组中,除了第2组(上下颌均拔除第一前磨牙)与第3组(上颌拔除第一前磨牙,下颌拔除第二前磨牙),第4组(上颌拔除第二前磨牙,下颌拔除第一前磨牙)与第5组(上下颌均拔除第二前磨牙)间全牙比的比较无显著性统计学差异外,其余组间的比较均有显著性差异;安氏Ⅱ类组,不同拔牙模式的全牙比之间均有显著性统计学差异。结论:前牙比正常的安氏不同错牙合畸形进行拔牙矫治时,前磨牙的拔牙模式会对拔牙后的全牙比产生影响。  相似文献   

10.
目的:探讨拔除磨牙矫治前牙开[牙合]的矫治方法和效果。方法:采用直丝弓矫治器,对9例恒牙期开病例进行拔除磨牙矫治。根据磨牙冠根发育及病理情况,结合错[牙合]类型,拔除4个第一磨牙2例;拔除双侧下颌第一磨牙及上颌第二磨牙2例;拔除双侧下颌第一磨牙2例;拔除双侧下颌第二磨牙1例;拔除双侧下颌第三磨牙及上颌第二磨牙2例。结果:全部病例矫治后均为前牙正常覆覆盖或Ⅰ度深覆[牙合],后牙中性关系。开[牙合]矫治最长时间为18个月,最短7个月,平均14个月。结论:拔除磨牙矫治前牙开[牙合],具有效果显著,矫治时间短,矫治后稳定性较好等特点。  相似文献   

11.
目的 分析安氏Ⅱ类错患者经摆式矫治器结合直丝弓矫治器治疗后的牙颌面结构变化,探讨此方法建立正常咬合关系的机制。方法 选择牙源性安氏Ⅱ类错患者24例,在治疗前(T1期)、推磨牙向远中后(T2期)、直丝弓矫治结束后(T3期),拍摄头颅定位侧位片。采用SPSS12.0软件包进行配对t检验。结果 ①T1期-T2期,上颌第一二磨牙均远中移动,但伴随着上颌切牙唇倾、第一前磨牙近中移动并倾斜、第一磨牙远中倾斜及下颌平面顺时针旋转等副作用。②T1期-T3期,下颌综合长度、前下面高和升支高度增加显著(P<0.01)。上颌第一前磨牙、第一磨牙的矢状向位置无显著性差异,切牙唇倾2.9°(P<0.05)。即使增强了支抗控制,固定矫治阶段上颌第一磨牙近中移动3.0mm(P<0.01)。结论 摆式矫治器可以有效的远中移动上颌磨牙,但是Ⅰ类磨牙关系的建立是颌骨差异性生长和牙齿移动的综合结果。  相似文献   

12.
目的研究摆式矫治器治疗安氏Ⅱ类错的牙弓形态变化。方法应用摆式矫治器治疗安氏Ⅱ类错患者32例,定量测量矫治前后上下颌石膏模型的尖牙间宽度、第一磨牙间宽度,测量结果行t检验。结果上颌尖牙间宽度、上颌第一磨牙间宽度分别增加3.49 mm和3.04 mm。上颌第一磨牙的轴倾度减少3.77°。下牙弓的拥挤改善,前牙覆减少3.37 mm、覆盖减少4.42 mm。磨牙关系由安氏Ⅱ类转为安氏Ⅰ类。结论摆式矫治器可用于治疗轻、中度安氏Ⅱ类错,且避免拔牙。  相似文献   

13.
目的采用PAR指数评价安氏Ⅱ类1分类错畸形矫治的效果。方法选择100例安氏Ⅱ类1分类错患者,分为4组:不拔牙组、拔上下颌第一前磨牙组、拔上颌第一前磨牙下颌第二前磨牙组、拔上颌第一前磨牙组,采用PAR指数对4组患者矫治前后的牙齿排列、颊侧咬合关系、覆盖、覆及中线情况进行评估和比较。结果治疗前四组病例上前牙排列、下前牙排列及总分有差别;治疗后四组病例颊侧咬合关系、总分、权重总分有差别;第一组及第四组治疗前后中线分值没有差别,第四组治疗前后下牙列排列没有差别;四组病例权重总分差均大于22分,其中第三组权重分差比其他三组大,权重总分减少百分率均大于70%,第一组减少百分率较另外三组低。结论对于安氏Ⅱ类1分类患者经四种方式治疗后均能得到极大改善,但拔牙矫治较不拔牙矫治病例改善更为明显,以上颌拔除第一前磨牙,下颌拔除第二前磨牙改善最为明显。  相似文献   

14.
目的:研究安氏Ⅰ类错(牙合)患者在间隙关闭过程中分别使用一步法或两步法对上颌支抗的影响.方法:选择安氏Ⅰ类中度拥挤,拔除4个第一前磨牙,侧貌较突的女性成人患者125人,按支抗及关闭方式分为4组,分别使用强支抗和中度支抗、一步和两步滑动法关闭间隙,对其治疗前后X线投影测量结果进行分析比较.结果:无论是强支抗还是中度支抗,两步法与一步法支抗丧失量无统计学差异.使用强支抗组磨牙近移量少,支抗丧失少(P<0.05).结论:使用一步法或两步法关闭拔牙间隙,上颌第一磨牙前移量无显著差异.强支抗引起的磨牙近移量少于中度支抗.  相似文献   

15.
目的 :评价应用片段弓技术治疗安氏 类 1分类错牙合的效果。方法 :应用片段弓技术对 7例安氏 类 1分类患者 ,通过拔除上颌第一前磨牙及下颌第二前磨牙 ,使下颌第一磨牙较快地向近中移动 ,纠正磨牙 类错牙合关系。结果 :X线头影测量分析显示本方法能够有效改善面部侧貌 ,控制下面部高度 ,控制牙合平面角及下颌平面角 ,使下前牙直立于下颌骨基骨之上 ,促进下颌骨向有利的方向生长。结论 :片段弓技术对于安氏 类 1分类患者是一种操作简单、有效、可推广运用的方法。  相似文献   

16.
目的:探讨前牙比正常的安氏3种分类经不同的拔牙模式治疗后全牙比的变化。方法:选取252例前牙比正常的患者模型,计算各组拔牙前和模拟4种模式拔牙后的全牙比,了解其变化规律。结果:相同拔牙模式的3种错(牙合)组矫治后的全牙比之间无大的差别;与拔牙前相比较,3种错(牙合)组拔牙后的全牙比均有所减小;在安氏Ⅰ类组与Ⅲ类组中,除了第2组(上下颌均拔除第一前磨牙)与第3组(上颌拔除第一前磨牙,下颌拔除第二前磨牙),第4组(上颌拔除第二前磨牙,下颌拔除第一前磨牙)与第5组(上下颌均拔除第二前磨牙)间全牙比的比较无显著性统计学差异外,其余组间的比较均有显著性差异;安氏Ⅱ类组,不同拔牙模式的全牙比之间均有显著性统计学差异。结论:前牙比正常的安氏不同错(牙合)畸形进行拔牙矫治时,前磨牙的拔牙模式会对拔牙后的全牙比产生影响。  相似文献   

17.
目的探讨拔除下颌第二磨牙结合固定矫治器矫治恒牙期严重骨性Ⅲ类错畸形的疗效与机制。方法8例恒牙期严重骨性Ⅲ类错畸形患者,男4例,女4例,年龄12.0~17.8岁,平均(14.5±0.7)岁,全部患者采用拔除下颌第二磨牙,直丝弓矫治器矫治,治疗前后头颅侧位片及常规头影测量分析。结果8例严重骨性Ⅲ类错患者均取得良好的矫治效果。上颌前牙发生明显的唇向倾斜移动,下颌前牙发生明显舌向移动,前牙建立良好覆、覆盖关系,磨牙关系由完全近中变为中性关系,面型由凹面型变为直面型。疗程15~25个月,平均18个月。结论严重的骨性Ⅲ类错,拔除第二磨牙后,通过结合固定矫治器、应用差动力技术,可有效地矫正严重的骨性反,并且面型可以得到较大改善。  相似文献   

18.
目的探讨安氏Ⅱ1类错拔牙矫治中,上下颌磨牙及切牙的位置变化。方法选择15名11-16岁拔除四个第一双尖牙的安氏Ⅱ1类错病例,用方丝弓矫治技术,口外力加强上颌磨牙支抗,治疗前及以间断力后移上颌尖牙到与第二双尖牙接触时,进行X线头影测量及统计分析。结果上颌磨牙前移了0.9mm,比下颌磨牙整体前移少约2mm;上切牙舌侧斜移动了4.1mm;下切牙舌向移动了1.8mm,比上颌磨牙前移少1mm。结论控制上颌磨牙支抗并增大弓丝的滑动,可使上颌切牙在未主动内收前舌向移动;减少下颌尖牙的后移则有利于下颌磨牙的前移。  相似文献   

19.
目的:研究安氏Ⅲ类错患者中,采用微型种植体作支抗,远移下颌磨牙的临床效果及其作用特点。方法:选择16例成人患者,将32枚微型种植体植于下颌第二前磨牙与第一磨牙之间颊侧牙槽骨内,Ni-Ti螺旋弹簧压缩后置于下颌第一前磨牙与下颌第一磨牙之间,推磨牙远移。通过测量下颌第一磨牙在近远中方向、垂直向的位置变化,以衡量磨牙的位置改变。并通过下颌中切牙的位置变化,评价支抗强弱。结果:下颌第一磨牙平均远中移动4.5mm,疗程5.4个月,平均移动速度0.8mm/月;磨牙长轴向远中倾斜角度为3.9°。下颌中切牙位置基本无改变。结论:所有下颌磨牙被远移到了恰当的位置。未见前牙支抗丧失。种植体作支抗推下颌磨牙远移的过程中,发挥了强支抗的作用。临床操作较方便,是一种值得推广的方法。  相似文献   

20.
目的:观察联合应用前方牵引器关闭拔牙间隙并矫治恒牙早期安氏III类错的临床疗效。方法:15例恒牙早期安氏III类错病例,上颌拔除两个第二前磨牙。上下颌粘结直丝弓矫治器,下颌全牙列平面塑料垫,排齐整平牙列后,联合应用前方牵引器关闭拔牙间隙并矫治恒牙早期安氏III类错。治疗前后分别摄X线头颅侧位片进行头影测量。结果:15例患者拔牙间隙关闭,安氏III类错纠正,SNA平均增加1.40,SNB平均减少2.50,ANB由-2.80增加到1.10。结论:在恒牙早期联合应用前方牵引器关闭拔牙间隙并矫治安氏III类错能促进上颌骨前移,抑制下颌骨向前方生长,可有效改善侧貌外形。  相似文献   

设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号