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下颌副颏孔的锥形束CT测量分析
引用本文:王婷婷唐尤超王远勤.下颌副颏孔的锥形束CT测量分析[J].实用医院临床杂志,2016(6):98-100.
作者姓名:王婷婷唐尤超王远勤
作者单位:1.暨南大学医学院附属惠州口腔医院516000;
基金项目:惠州市科技计划资助项目(编号:2014Y106)
摘    要:目的应用锥形束CT(CBCT)观察副颏孔,分析其发生率、部位及分布规律。方法选取500例(男261例,女239例)CBCT影像回顾性分析。观察副颏孔的发生率及解剖特征,并测量副颏孔直径、颏孔与副颏孔之间距离进行统计分析。结果 500例(1000侧)患者中,39例(7.8%)41侧(4.1%)观察到副颏孔,1例一侧发现2个副颏孔,发生率无性别差异。副颏孔常见于下颌第二前磨牙下方,直径为(1.28±0.42)mm,男性副颏孔直径大于女性,差异有统计学意义(P<0.05)。副颏孔与颏孔之间的距离为(3.36±1.54)mm,与副颏孔直径无相关性。结论经CBCT观察副颏孔有较高的发生率,临床医生在下颌颏孔区进行各种手术应注意这一解剖变异。

关 键 词:颏孔  副颏孔  锥形束CT  解剖学  放射影像学
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