137Cs γ射线诱发CHL细胞遗传不稳定性

目的 研究辐射诱发的CHL细胞遗传不稳定性在基因、染色体及细胞水平上的传递及表达情况。方法 不同剂量一次照射CHL细胞,于不同时间点分析受照存活细胞的HGPRT位点突变、微核及细胞凋亡。结果 CHL细胞照射3Gy后53天,其后代仍表达出显着升高的HG PRT位点突变率。细胞照射3Gy后6小时的双核细胞微核率达(41.51±3.61)%,3天后下降为(14.47±2.39)%,56天后为(10.51±0.87)%,显着高于对照组(P<0.01);而受照细胞子代双核率无显着变化,接种效率明显降低(3Gy剂量以上P<0.01).细胞受照射3、4、6、9、10Gy后,第2天细胞凋亡率达最大值,10Gy剂量组为(24.90±6.72)%,之后各剂量组细胞凋亡率迅速下降,但直到照射后12天细胞凋亡率仍维持在10%左右,显着高于对照组(P<0.01).结论 辐射诱发的细胞基因组不稳定性可以表现在基因、染色体及细胞等不同水平上,推测在其产生和传递过程中可能伴随着某些基因的改变。