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| 端粒,隐性嵌合体,杂合性丢失与多基因遗传病 | |
| 作者姓名： | 胡云清 邹嵘 |
| 作者单位： | [1]佳木斯大学附属一院儿科 [2]哈尔滨医科大学生物教研室 |
| 摘 要： | 端粒的长度和耗损速度是决定细胞复制潜力的两个重要因素，端粒的损耗不但引发细胞衰老、杂合性丢失，而且导致致病等位基因的表达。多基因遗传病的发病决定于多种致病基因的遗传率和端粒的耗损量、隐性嵌合体存在范围之间的相互作用。 |
| 关 键 词： | 端粒 隐性嵌合体 多基因遗传病 杂合性丢失 |
| 本文献已被 维普 等数据库收录！ | |
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