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| 薄层层析法的某些最新进展 | |
| 作者姓名： | Forbes S 李世壮 |
| 摘 要： | 本文就TLC在点样、薄层板的改进,展开方法以及被分离成分的测定等方面的最新进展讨论如下:点样在TLC中,点样是最关键且常是最耗时的步骤。已熟知的点样法是用微量吸管和作者最近研制的一种自动点样器(Camag Nanomat)。后者是磁性套筒围绕的微量吸管,用电磁场将 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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