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| 端粒、隐性嵌合体、杂合性丢失与多基因遗传病 | |
| 作者姓名： | 胡云清 邹嵘 |
| 作者单位： | 佳木斯大学附属一院儿科!黑龙江佳木斯154002(胡云清)，哈尔滨医科大学生物教研室!黑龙江哈尔滨150086(邹嵘) |
| 摘 要： | 端粒的长度和耗损速度是决定细胞复制潜力的两个重要因素 ,端粒的耗损不但引发细胞衰老、杂合性丢失 ,而且导致致病等位基因的表达。多基因遗传病的发病决定于多种致病基因的遗传率和端粒的耗损量、隐性嵌合体存在范围之间的相互作用 |
| 关 键 词： | 端粒 隐性嵌合体 多基因遗传病 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |