神经电生理检查对新生儿脑损伤后脑功能及预后的评估价值 |
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作者姓名: | 蔡晓唐 罗蓉 |
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作者单位: | 四川大学华西妇女儿童第二医院儿科,四川成都610041 |
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摘 要: | 脑发育是小儿机体发育的重要组成部份,围产期各种危险因素都可能对发育中脑造成损害,导致后期脑发育障碍,表现为智力、运动发育异常及学习、认知功能障碍。目前对新生儿脑损伤的预测多采用神经系统体检和影像学技术,包括头颅超声、CT和MRI等;这些评估方法是基于解剖学结构的改变,而脑电图(Electroencephalography,EEG)则可显示早期脑功能异常。随着神经电生理科学的发展,人们应用EEG及诱发电位对发育期脑功能进行深入研究,
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关 键 词: | 新生儿脑损伤 脑功能异常 神经电生理 评估方法 脑损伤后 脑发育障碍 价值 预后 |
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