基质辅助激光解吸-电离质谱在糖复合物分析中的应用进展

目的 介绍基质辅助激光解吸／电离质谱在糖复合物分析中的应用，为糖复合物的分析提供参考。方法 以国外大量有代表性的文献为基础，进行分析、整理和归纳。结果 综述了基质辅助激光解吸／电离质谱在分析糖复合物时，常选用的基质，以及在不同类型糖复合物分析中的应用。基质辅助激光解吸／电离质谱在进行糖复合物分析时，选用合适的基质，可以直接确定糖复合物的分子量，避免了样品的衍生化。结合外源糖苷酶的降解，可以确定糖基连接方式和结构异构，并能对糖复合物进行定量。结论 基质辅助激光解吸／电离质谱是一种快速、便捷的分析糖复合物的分析方法，已被广泛的用于糖复合物的结构分析。