X线头影测量Coben分析法在安氏Ⅲ类错殆诊断中的意义

Coben分析法是1955年Coben提出的一种x线头影测量分析方法，在x线头颅定位侧位片上测量面部的深度和高度，是以线距测量为主的分析方法，通过各测量值相互间的关系来分析颅面结构的特征^（1）。冯小东等研究认为，Co-ben分析法在骨性安氏Ⅲ类错殆畸形的诊断、提供正确的矫治设计依据及颌面生长发育的研究上，比角度分析更直观，更容易理解，具有临床应用价值。本文将对Coben分析法在安氏Ⅲ类错黯诊断及制定矫治计划中的意义进行综述。