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| 采用扩散张量成像指标直方图分析确定脑膜瘤的分级及亚型 | |
| 引用本文： | S.Kim,E.B.Lee,P.Syre,梁斌.采用扩散张量成像指标直方图分析确定脑膜瘤的分级及亚型[J].国际医学放射学杂志,2012(2):183. |
| 作者姓名： | S.Kim E.B.Lee P.Syre 梁斌 |
| 作者单位： | Department of Radiology,Division of Neuroradiology,Hospital of the Univesity of Pennsylvana,3400 Spruce ST,219 Dulles Bldg,Philadelphia,PA,USA |
| 摘 要： | 目的确定扩散张量(DT)MRI指标直方图分析,包括张量模型测量,是否有助于确定脑膜瘤的分级及亚型。材料与方法本HIPAA依从性研究得到机构审查委员会批准。回顾性研究9例非典型、3例间变型及39例典型脑膜瘤。39 |
| 关 键 词： | 脑膜瘤 直方图分析 亚型 材料与方法 回顾性研究 扩散张量成像 指标 分级 非典型 模型测量 |
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