| 长期放置宫内节育器的安全性研究 |
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| 引用本文： | 董白桦,侯桂华,张萍,范俊,张友忠,刘德宜,张超. 长期放置宫内节育器的安全性研究[J]. 山东大学学报(医学版), 2002, 40(5): 445-447 |
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| 作者姓名： | 董白桦 侯桂华 张萍 范俊 张友忠 刘德宜 张超 |
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| 作者单位： | 1. 山东大学齐鲁医院妇产科
2. 山东大学医学院实验核医学研究所 |
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| 基金项目： | 山东省计划生育委员会资助课题 |
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| 摘 要： | 目的 :探讨长期放置宫内节育器 (IUD)的安全性。方法 :使用光镜、扫描电镜和透射电镜观察放置及非放置IUD妇女子宫内膜的组织结构和超微结构 ;采用PCR SSCP技术检测其子宫内膜p16、p5 3、k ras基因的表达。结果 :长期放置惰性IUD的子宫内膜表现为局部机械性压迫现象 ;放置含铜IUD的子宫内膜则呈现轻微的损伤 ;两种IUD的子宫内膜细胞均未见坏死及异型改变。p16、p5 3、k ras基因表达在各组中均无改变。结论 :长期放置惰性IUD对子宫内膜无损伤、无致突变作用 ;放置含铜IUD对子宫内膜有轻微的损伤作用 ,未见致突变现象。
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| 关 键 词： | 宫内避孕器 子宫内膜 显微镜检查 显微镜检查 电子 扫描 显微镜检查 电子 基因 p16 基因 p53 基因 kras |
| 文章编号： | 1671-7554(2002)05-0445-03 |
| 修稿时间： | 2002-03-05 |
Safety of long-term placement of intrauterine devices |
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| DONG Bai hua,HOU Gui hua,ZHANG Ping,et al. Safety of long-term placement of intrauterine devices[J]. Journal of Shandong University:Health Sciences, 2002, 40(5): 445-447 |
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| Authors: | DONG Bai hua HOU Gui hua ZHANG Ping et al |
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| Abstract: | Objective:To assess the safety of the long term use of intrauterine devices (IUD).Methods:Microscopy, Scanning electron microscopy (SEM) and transmission electron microscopy (TEM) were performed to observe the endometrial histological change and ultrastructure in women using IUD;and women as blank control.PCR SSCP technique was used to determine the expression of gene p16, p53 and k ras .Results:Under SEM and TEM, necrosis and atypia of endometrial cells were neither found in the group (I IUD)nor in the group(T IUD). There were no positive expression of gene p16, p53 and k ras in endometrium of all the subjects.Conclusion:Both I IUD and T IUD are safe and effective for long term application. |
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| Keywords: | Intrauterine devices Endometrium Microscopy Microscopy electron Microscopy electron scanning Genes p16 Genes p53 Genes k ras |
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