化妆品中锗的碱性模式-氢化物发生-原子荧光光谱法测定

利用微波消解技术处理样品，在固定的微波输出功率及阶梯升压加热方式、加压条件下，采用碱性模式-氢化物发生-原子荧光光谱法测定化妆品中的锗。研究在碱性介质下。侍与硼氢化钾生成氢化物的行为，对影响测定锗荧光强度的诸因素进行试验和探讨。方法的检出限为1．5μg／L，对25μg／L锗的标准溶液平行测定11次，相对标准偏差为1．5％。应用于实际样品厦标准物质的测定，结果满意。