摘 要: | 目的探讨使用根管显微镜对上颌第一磨牙遗漏近颊第二根管的治疗效果。方法选取2017年12月~2018年12月在我院实行根管再治疗的上颌第一磨牙60例患者为研究对象,按照X线片的特点,牙冠和髓底的形态特点判定是否有上颌第一磨牙近颊第二根管(MB2)的存在。使用斜方形开髓入口,探查工具为小号K锉,必要时可以借助根管手术显微镜定位MB2根管。镍钛机使用根管锉冠向下法预备根管,1%NaClO对根管系统进行冲洗,冷牙胶侧方加压和热牙胶垂直加压充填根管。记录近颊根的根管分型、MB2根管畅通情况及VAS评分情况。结果再治疗内共出现MB2根管52例,疏通43例(82.7%)。近颊根双根管比较常见的是2-1型和2-2型。治疗中无任何器械折断和管壁侧穿的情况。治疗后患者VAS评分(2.6±0.8)分]较治疗前患者VAS评分(4.6±1.5)分]明显降低,差异有统计学意义(t=3.1673,P0.05)。结论上颌第一磨牙MB2有着较高的发生率,并且有着弯曲、隐蔽和狭窄等情况,增加了治疗难度,临床医生有意识的寻找并结合显微镜下的可视化操作可以提升MB2根管的发展及成功率。
|