MR磁敏感加权成像在弥漫性轴索损伤诊断中的应用价值

目的:探讨磁敏感加权成像技术(SWI)在脑弥漫性轴索损伤(DAI)中的应用价值。方法:16例DAI患者行CT及1.5TMR检查,扫描方法为T1WI、T2WI、FLAIR及SWI序列扫描,比较不同序列对DAI脑内病灶的显示率并分析其信号特征,评价SWI在检查和诊断中的作用。结果:16例患者脑内各部位DAI病灶检出数依次为:CT发现5个病灶,MRI常规扫描共发现196个病灶,其中T1WI检出19个,T2WI检出43个,FLAIR检出62个,DWI检出72个,SWI序列共检出329个病灶。SWI序列发现病灶数量明显多于常规MR(IP<0.05)。结论:SWI对DAI脑内病灶的检出明显优于常规MRI,对DAI的诊断和预后判断有很高的价值。