年轻成人安氏I类错牙合亚型的X线头影测量分析

目的:分析年轻成人安氏Ⅰ类错牙合亚型特征.方法:选取101例安氏Ⅰ类错牙合年轻成年患者,拍摄颅颌定位X线片.用头影测量"优选法"的17项测量指标,按水平方向和垂直方向进行聚类分析,并与正常人群进行比较.结果:测量指标按水平方向可聚类为3个亚类,即水平Ⅰ类、Ⅱ类和Ⅲ类,所占比例分别为17.8%、12.9%和65.3%.水平Ⅰ类特征:上颌略偏缩、下颌后缩,Ⅱ类错牙合趋势,上下中切牙唇倾;水平Ⅱ类特征:上颌前凸、下颌后缩,上下中切牙舌倾,上下唇相对于上下切牙突度大;水平Ⅲ类特征:上颌前凸、下颌后缩,上下中切牙唇倾,上下唇相对于上下切牙突度大.按垂直方向聚为Ⅰ类,特征是垂直方向发育不足,尤其是面下1/3为著,下颌呈后旋趋势,上下唇突.结论:年轻成人安氏I类错牙合水平方向分为3个亚类、垂直方向为Ⅰ类.总体趋势是下颌后缩、面下1/3发育不足,但上颌骨、上下前牙和唇位等方面仍有一定的差异,临床应针对性诊治.