| 摘 要： | 目的探讨缺氧缺血性脑损伤(HIE)患儿发生脑电图痫样发作的高危因素。方法本研究以2013年11月至2015年10月在汕头大学医学院第二附属医院新生儿科住院的确诊HIE的足月新生儿为对象,通过床旁视频振幅脑电图(a EEG)监测分析患儿发生脑电图癫痫的情况,结合临床资料,通过单因素Spearman相关性分析和多分类Logistic回归分析影响HIE新生儿发生脑电图痫样发作的高危因素。结果本研究入组的108例HIE患儿有71例(65.7%)检测到脑电图癫痫发作,其中有50例(46.3%)患儿在整个记录期间有1或2次的脑电图痫样发作,有15例(13.9%)患儿在整个记录期间有多于2次的脑电图痫样发作,有6例(5.6%)患儿的脑电图呈现癫痫持续状态。单因素分析结果提示,新生儿性别(r=0.052,P=0.46)、体重(r=0.086,P=0.219)、血糖(r=0.083,P=0.283)与HIE患儿发生脑电图癫痫不存在相关性,而5 min Apgar评分(r=-0.384,P=0.000)、血气p H(r=-0.251,P=0.000)、血清Ca(r=-0.218,P=0.002)、低温治疗(r=0.403,P=0.000)、脑电背景活动(r=0.581,P=0.000)和临床癫痫发作症状(r=0.496,P=0.000)对HIE患儿脑电图痫样发作的影响有统计学意义。Logistic回归分析结果提示,5 min Apgar评分(95%CI:2.715~290.53,P=0.005)、脑电背景活动(95%CI:1.294~2.119,P=0.049)和临床癫痫发作症状(95%CI:12.836~522.668,P=0.000)与脑电图癫痫发作的风险有密切联系。结论 HIE患儿发生新生儿癫痫的主要高危因素包括5 min Apgar评分≤3分、未进行亚低温治疗、脑电背景活动异常和临床癫痫发作症状,故临床需早期识别合并这些高危因素的HIE患儿,并积极进行a EEG监测。
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