智力低下或伴畸形患者的细胞遗传学研究 |
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引用本文: | 丁秀原,宋昉,王红,金煜炜.智力低下或伴畸形患者的细胞遗传学研究[J].中国优生与遗传杂志,2007,15(4):48-49,17. |
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作者姓名: | 丁秀原 宋昉 王红 金煜炜 |
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作者单位: | 首都儿科研究所,北京,100020 |
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摘 要: | 目的 用细胞遗传学方法研究先天性智力低下或伴发畸形患者的病因,为优生干预提供科学依据。方法 采用外周血淋巴细胞培养技术、染色体G显带、显微镜下进行染色体核型分析或脆性X染色体检测。结果 1093例先天性智力低下或伴发育畸形患儿中染色体核型异常355例,检出率为32.5%(355/1093),其中21号染色体异常者326例,占染色体异常的91.8%(326/355),其他常染色体结构或数目异常24例,占6.8%(24/355),性染色体异常者5例,占1.4%(5/355)。对临床疑似脆性X综合征的48名患者用细胞遗传学方法检出6名脆性X综合征患者,占受检者的12.5%(6/48)。结论 先天性智力低下或伴发畸形、生长发育迟缓是染色体异常的主要临床表现形式,细胞遗传学方法是诊断染色体病、检出携带者以及进行产前诊断的重要方法。
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关 键 词: | 智力低下 染色体核型 脆性X综合征 |
文章编号: | 1006-9534(2007)04-0048-03 |
收稿时间: | 2006-09-01 |
修稿时间: | 2006年9月8日 |
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