| 纳米金基因芯片技术快速鉴定常见浅部致病真菌 |
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| 引用本文： | 江文,董玲玲,陈兴平.纳米金基因芯片技术快速鉴定常见浅部致病真菌[J].中华皮肤科杂志,2013,46(6):437-439. |
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| 作者姓名： | 江文 董玲玲 陈兴平 |
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| 作者单位： | 1. 华中科技大学附属同济医院2. 华中科技大学同济医学院附属同济医院皮肤科 |
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| 摘 要： | 浅部真菌病是临床常见的感染性疾病，能简便快速鉴定出致病真菌对疾病的治疗至关重要。传统的鉴定方法主要依据真菌的形态、细胞生理和生化特征，这些方法阳性率低，操作复杂费时。一些免疫学和分子生物学技术如PCR，以及以PCR为基础的限制性片段长度多态性PCR（PCR-RFLP）、随机扩增多态性DNA PCR（PCR-RAPD）、单链构象多态性PCR（PCR-SSCP）等也应用于真菌病的诊断，但这些技术也存在操作复杂、实验设备要求高等缺陷［1］。因此，我们尝试建立一种可目视化、快速简便、准确鉴定常见浅部致病真菌的方法……
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| 关 键 词： | 真菌病 芯片分析技术 鉴定 |
| 收稿时间： | 2012-06-11 |
Rapid identification of pathogenic fungi responsible for superficial infection with nanogold-based gene chips |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | identification |
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