X线头影测量摄影技术的探讨 |
| |
作者姓名: | 陈顺强 陈明寅 李旭民 陈涛 |
| |
作者单位: | 450003,郑州市,河南省人民医院 |
| |
摘 要: | X线头影测量是口腔正畸及口腔外科的临床诊断、治疗及科研的一个重要手段.它主要是利用头颅定位像所得的影像,对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线、面、角进行测量分析,从而了解牙颌、颅面软组织结构的关系.对牙颌、颅面的检查和诊断,由表面形态而深入到内部的骨骼结构中去.还可以根据治疗前后头影测量的分析比较,准确的评价矫治效果.用作头影测量的X线头颅影像,必须要在头颅定位仪的严格定位下拍摄.只有完全排除了因头颅不正而造成的误差后,各测量结果才有比较、分析的价值.
|
关 键 词: | X线头影测量 摄影 |
文章编号: | 1672-3457(2004)04-308-01 |
修稿时间: | 2004-02-02 |
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录! |
|