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脆性X染色体综合征一家系调查
引用本文:丁秀原,潘素英.脆性X染色体综合征一家系调查[J].北京医学,1985(4).
作者姓名:丁秀原  潘素英
作者单位:首都儿科研究所 (丁秀原),首都儿科研究所(潘素英)
摘    要:本文对来自同一家系的4例男性智力低下者进行了研究,分析了临床症状,并对患者及其母进行了有关脆性X染色体的细胞遗传学检查。4例患者均检出脆性X染色体,频率为7~13%,且fra(x)在X染色体末端q27—28带区。两例肯定携带者,fra(x)检出率分别为0%、1%。fra(x)的检出对产前诊断和预防X-连锁智力低下有重要意义。

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