|
|||||
|
|
| SIEMENS 6MV X刀剂量测量 | |
| 引用本文： | 雷宏昌,陶金柱.SIEMENS 6MV X刀剂量测量[J].河南肿瘤学杂志,1997,10(6):445-448. |
| 作者姓名： | 雷宏昌 陶金柱 |
| 作者单位： | [1]河南省肿瘤医院 [2]河南省人民医院 |
| 摘 要： | 用Ｐ型半导体探测器测量Ｘ刀φ４ｍｍ～４１．２ｍｍ射野的输出因子Ｓｃｐ，体模散射因子Ｓｐ，百分深度剂量ＰＤＤ和离轴比曲线ＯＡＲ；用０．１ｃｃ电离室测量射野的输出因子，体模散射因子和组织最大剂量比（ＴＭＲ）。通过两者的比较及与发表文献比较，对结果给予评价，结果显示：用小型半导体探测器测量Ｘ刀，可获得准确的结果，测量百分深度剂量获得ＴＭＲ比用电离室直接测量ＴＭＲ更快捷更简便，０．１ｃｃ电离室测量射野输出 |
| 关 键 词： | 半导体探测器 电离室 立体定向 放射疗法 肿瘤 |
| 本文献已被 维普 等数据库收录！ | |