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Morphologische Ergebnisse zur Anwendbarkeit eines gepulsten Kryptonfluorid-Excimerlasers im Rahmen der Schmelzkonditionierung
Authors:Dr. Th. Ruppenthal  U. Stratmann  M. Schürenberg  D. Czech  G. Wessling  H. G. Sergl
Affiliation:(1) Present address: Klinik und Poliklinik für Zahn-, Mund- und Kieferheilkunde, Poliklinik für Kieferorthopädie der Universität Mainz der Universitätskliniken Münster, Augustusplatz 2, D-6500 Mainz;(2) Institut für Anatomie, Bereich Zahnmedizin der Universitätskliniken Münster, Münster, Deutschland;(3) Institut für medizinische Physik der Universitätskliniken Münster, Münster, Deutschland;(4) Zentrum für Zahn-, Mund- und Kieferheilkunde der Universitätskliniken Münster, Münster, Deutschland
Abstract:Zusammenfassung Trotz vieler Fortschritte auf dem Gebiet der Säure-Ätz-Technik sind wesentliche Probleme bisher nicht gelöst worden. Die Hauptaspekte dieses Problemkreises sind das nicht vorhersagbare Ätzmuster, die unkontrollierbare Langzeittiefenwirkung sowie die Entstehung von Schmelzausrissen aufgrund einer nicht definierbaren Bruchfläche bei Bracketabnahme. Ziel der vorliegenden Studie ist es, morphologische Ergebnisse der Schmelzkonditionierung bei Verwendung eines gepulsten Kryptonfluorid-Excimerlasers (248 nm) vorzustellen. Die rasterelektronenmikroskopische Untersuchung zeigte ein dem peripheren Säure-Ätz-Tup ähnelndes Oberflächenrelief. Zeichen einer Hitzeentwicklung wurden nicht gefunden. Die Anforderungen an ein modernes Lasersystem, das zu einer möglichen Alternative der konventionellen Säure-Ätz-Technik werden könnte, werden diskutiert.
Morphological effects produced by a krypton fluoride excimer laser used for enamel conditioning
Summary Although there have been many advances in the field of acid etching, major problems still present. For the most part, these are the unpredictability of the effects of etching, the lack of control of the depth of etching over the long term, and the development of enamel fractures occurring on debonding. The aim of this study was to investigate the morphological effects of enamel conditioning using a pulsed krypton fluoride excimer laser (wavelength 248 nm). Scanning electron microscopic examination revealed a surface similar to that produced by peripheral etching; no signs of thermal damage were to be seen. The requirements that have to be met by a modern laser considered as a possible alternative to conventional acid etching, are discussed.
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