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| 孕期外源物暴露致子代HPA轴改变与不良妊娠结局的相关性研究 | |
| 作者单位： | ;1.鄂东医疗集团黄石市妇幼保健院;2.武汉大学基础医学院;3.鄂东医养集团 |
| 摘 要： | <正>孕期不良环境所引起的子代低出生体质量以及不良妊娠结局,一般认为宫内内分泌发育编程改变,其在下丘脑—垂体—肾上腺(HPA)轴介导作用下发生1]。孕期外源物暴露致子代HPA轴编程改变,表现为遗传修饰异常,影响胎儿的重要内分泌轴的发育。外源有害物质通过母体—胎盘—胎儿生物学单位,多途径地影响宫内胎儿发育,造成其出生后轴发育编程改变及成年后多种慢性疾病易感。HPA轴实为机体应激的关键神经内分泌轴,其无论是在出生前的应激防御应答中还是在出生后,均起到重要作用,同时还是宫内时期胎儿容易遭受损失的重要靶位。孕期不良环境可引 |
| 关 键 词： | 孕期 外源物暴露 HPA轴 妊娠结局 |
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