首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     


Ultrathin-sectioning of the limited area for electron microscopy from serial one micron sections.
Authors:C Oura  G Usuku
Abstract:
Keywords:
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号