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| 上海“6.25”^60Co源事故受照者照后4—6年细胞遗传学随？… | |
| 引用本文： | 金璀珍,刘秀林.上海“6.25”^60Co源事故受照者照后4—6年细胞遗传学随？…[J].中华放射医学与防护杂志,1998,18(1):21-2. |
| 作者姓名： | 金璀珍 刘秀林 |
| 摘 要： | 用染色体核型分析方法对上海６．２５钴源事故５名受照者照后４－６年进行随访观察，为评价辐射对人远期健康影响提供生物学依据。方法 照后第４年用常规染色方法，照后第５年用Ｇ显带法，照后第６年进而用染色体核型自动分析系统，加大分析细胞数，使结果更精确。结果 根据照后４－６年的随访观察结果，证实在这些受照者所见到的畸变主要是稳定性畸变，它们的频率与原先所受剂量大小关系密切。结论 随访观察表明稳定性畸变可以作 |
| 关 键 词： | 染色体 核型分析 辐射事故 稳定性畸变 钴60 |
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