| 利用电离室自动曝光系统计算千伏指数n值 |
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| 引用本文： | 农俊彬.利用电离室自动曝光系统计算千伏指数n值[J].实用放射学杂志,2008,24(2):250-252. |
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| 作者姓名： | 农俊彬 |
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| 作者单位： | 广西百色市人民医院放射科,广西,百色,533000 |
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| 摘 要： | 目的 探讨利用电离室自动曝光系统计算千伏指数n值,以及滤过质厚度、原子序数对n值的影响.方法 利用北京万东HF-50E型高频X线摄影机及其电离室自动曝光系统,对5、10、15、20 cm厚纯净水水模,以及5、10 cm厚5%KI溶液和5 cm厚10%KI溶液水模,从低千伏到高千伏值进行系列曝光,记录每次曝光的实际mAs值,绘制等曝光量曲线,计算n值.结果 千伏指数n值不仅随管电压升高而降低,而且还随水模厚度增加而增加,随滤过质原子序数增加而增加.用电离室自动曝光系统计算千伏指数n值,方法简便,由于直接用曝光量值计算,其实验误差较小.结论 利用电离室自动曝光系统计算千伏指数n值,可以作为计算n值的方法之一,在教学或制定X线摄影条件中运用.
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| 关 键 词： | 感光效应 千伏指数n 电离室 计算 利用 电离室 自动 曝光量 系统计算 指数 System Exposure Automatic Chamber Value Index 运用 摄影条件 教学 实验误差 量值 电压升高 结果 曲线 |
| 文章编号： | 1002-1671(2008)02-0250-04 |
| 修稿时间： | 2006年4月28日 |
The Calculation of Kilovolt Index n Value with Ion Chamber Automatic Exposure System |
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| NONG Jun-bin.The Calculation of Kilovolt Index n Value with Ion Chamber Automatic Exposure System[J].Journal of Practical Radiology,2008,24(2):250-252. |
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| Authors: | NONG Jun-bin |
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