高位牵引在安氏Ⅱ类1分类错中的应用研究——X线头影测量分析

目的 :比较观察高位牵引的口外弓装置对安氏Ⅱ类 1分类错的颌骨及牙的影响 ,方法 :选择 12名青少年安氏Ⅱ类 1分类的患者 ,戴用高位牵引口外装置并将牵引力方向控制通过于上颌磨牙的抗力中心 ,平均每天戴用 12小时以上 ,连续戴 6个月 ,比较治疗前后的头颅侧位片分析结果。结果 :经过 6个月的高位牵引 ,上颌磨牙有显著的远中移动 (2 .4 4mm)和压低 (0 .5lmm) ,上颌骨的长度 (A Ptm)减少了 0 .79mm ,A点与ANS点分别向后移动了 0 .92mm和 0 .10mm ,上颌骨的前份 (A与ANS)有一定量的向下 ,分别为 1.4 8mm和 1.35mm。结论 :戴用高位牵引装置使作用力通过上颌磨牙阻抗中心 ,两侧磨牙受力约 5 0 0 g ,为期 6个月 ,可以使上颌磨牙整体远中移动和压低 ,并明显抑制上颌骨向前生长。