| 菌斑固相消耗糖后缓冲容量的变化与龋易感性的关系 |
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| 引用本文： | 包旭东,岳林,高学军. 菌斑固相消耗糖后缓冲容量的变化与龋易感性的关系[J]. 现代口腔医学杂志, 2007, 21(5): 452-454 |
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| 作者姓名： | 包旭东 岳林 高学军 |
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| 作者单位： | 北京大学口腔医学院·口腔医院牙体牙髓科,100081 |
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| 摘 要： | 目的研究牙菌斑固相代谢糖后缓冲容量的变化与龋易感性的关系。方法选择成年高龋者(DMFS≥10,DS≥5)及无龋者(DMFS=0)各10名,分别取4种糖消耗情形下的牙菌斑,即基线菌斑、一次漱糖后即刻菌斑、持续耗糖菌斑和漱糖后恢复期菌斑。样本经离心干燥获得菌斑固相成分,以25mmol/LKCl制备10mg/ml的混悬液,用0.1mmol/LHCl滴定以测定初始pH至pH4的缓冲总量和pH5.2~4区段的缓冲容量,同时对各组进行细菌计数。结果消耗糖后菌斑固相的缓冲总量均比基线值(208.793±73.338μmolH /g)低,在pH5.2~4区段,一次耗糖即刻和漱糖前的缓冲容量相同,分别为112.243±28.124μmolH /g和124.773±27.886μmolH /g,持续耗糖后下降至93.358±18.356μmolH /g,恢复期菌斑固相的缓冲容量(144.905±36.857μmolH /g)显著上升。不同龋易感个体缓冲容量间的差异并无显著性。结论糖消耗过程影响菌斑固相的缓冲力,缓冲容量可能不是一个指示龋易感性的敏感指标。
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| 关 键 词： | 菌斑 缓冲力 细菌密度 龋易感性 |
| 修稿时间： | 2006-08-052006-10-24 |
Influence of sucrose exposure on plaque solid''''s buffering capacity |
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| BAO Xudong,YUE Lin,GAO Xuejun. Influence of sucrose exposure on plaque solid''''s buffering capacity[J]. Journal of Modern Stomatology, 2007, 21(5): 452-454 |
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| Authors: | BAO Xudong YUE Lin GAO Xuejun |
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| Affiliation: | Peking University School and Hospital of Stomatology, Beijing 100081 |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Dental plaque Buffer capacity Cells density Caries - susceptibility |
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