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| 电针对大鼠脑缺血再灌注损伤后神经元细胞凋亡影响及机制的实验研究 | |
| 作者姓名： | 张俭欣 金龙云 赵德信 |
| 作者单位： | 1. 牡丹江医学院红旗医院,针灸科,黑龙江,牡丹江,157011 2. 牡丹江医学院红旗医院,影像中心,黑龙江,牡丹江,157011 |
| 摘 要： | 脑缺血／再灌注损伤是指机体器官缺血一定时间后再恢复血流灌注，组织损伤反而进行性加重，可引起严重神经功能障碍。研究表明电针刺激穴位对脑缺血／再灌注损伤有保护作用，但其相关机制的研究尚少，为此我们应用大鼠缺血再灌注模型研究电针对神经元细胞凋亡及BCL-2和BAY表达的影响。 |
| 关 键 词： | 脑缺血再灌注损伤 神经元细胞凋亡 电针刺激穴位 大鼠 缺血／再灌注损伤 实验研 缺血再灌注模型 神经功能障碍 进行性加重 BCL-2 |
| 文章编号： | 1007-4287（2006）06-0673-02 |
| 收稿时间： | 2006-03-09 |
| 修稿时间： | 2006-03-09 |
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