摘 要: | 目的探讨磁敏感加权成像(SWI)显示弥漫性轴索损伤(DAI)的病灶个数与格拉斯哥评分(GCS)的关系及临床意义。方法对30例临床确诊为DAI的脑外伤患者,分别在伤后2?h至20?d行磁共振(MRI)常规序列(T1WI、T2WI、FLAIR)及SWI序列扫描,并观测患者病灶数量,观察各序列间有无明显差异,并与GCS评分进行相关性分析。结果MRI常规序列扫描发现124个病灶;SWI序列发现621个病灶,SWI序列发现病灶数量明显多于常规磁共振扫描(u=-10.235, P<0.01),其中SWI序列显示的病灶数量与GCS评分之间呈明显的负相关(r=-0.867,P<0.01)。结论SWI序列可以在DAI患者中发现更多的出血病灶,并且病灶的数量与GCS评分密切相关,对DAI的诊断及判断患者的预后有很高的价值。
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