摘 要: | X线头影测量术对口腔正畸学及正颌外科学的发展发挥了非常重要的作用 ,不仅可以研究分析正常及错的颅面生长发育机制 ,而且还可以研究矫治前后的牙、颌、面形态结构变化 ,也是外科正畸的治疗设计、近远期疗效分析的量化基础。目前国内已引进产自不同国家的数字化曲面全景X线机可进行头影测量 ,由于相应的处理及分析软件较昂贵 ,而各医院对其已装软件未能充分开发利用。银川市口腔医院引进数字化曲面全景X线机后 ,研究开发出一简单实用的头影测量法。现报道如下。1 设备和方法数字化曲面全景X线机 (ORTHOPHOSDS西诺德公…
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