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| GE Hispeed dual双排螺旋CT伪影故障分析与排除 | |
| 作者姓名： | 胡耀斌 王美萍 卢铭松 |
| 作者单位： | 1. 江西省宜春市中医院放射科,江西,宜春,336000 2. GE公司 |
| 摘 要： | 1故障现象我院于2008年1月引进一台美国GE Hispeeddud双排螺旋CT机，接诊20例1个月-4周岁的小儿头颅外伤患者做颅脑CT扫描，发现右基底节区和右颞顶叶2—3个层面出现一斑点状或同心圆状高密度影，且在其前外侧方可见斑点状或小片状低密度影。并在当天及一周后不同时间内复查。 |
| 关 键 词： | 故障分析 CT伪影 GE 颅脑CT扫描 螺旋CT机 故障现象 外伤患者 高密度影 |
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