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| 孕期外源物暴露致子代HPA轴改变的不良妊娠结局及远期危害 | |
| 作者单位： | ;1.黄石市妇幼保健院围产保健科;2.武汉大学基础医学院药理学系 |
| 摘 要： | 孕期外源物暴露致子代下丘脑-垂体-肾上腺(HPA)轴编程改变为表观遗传修饰异常,影响胎儿的重要内分泌轴——HPA轴的发育。HPA轴实为机体应激的关键神经内分泌轴,孕期外源物暴露可使外源有害物质通过母体-胎盘-胎儿生物学单位多途径的影响宫内胎儿发育,造成HPA轴编程改变,影响其出生前和出生后的应激防御应答机制,可导致成年后多种慢性疾病易感性增加,对子代产生深远影响。进一步研究孕期外源物暴露致胎儿子代HPA轴编程改变可为规避孕期不良宫内环境造成的胎儿损害及围生预防和管理提供理论根据。 |
| 关 键 词： | 下丘脑-垂体-肾上腺轴 代谢综合征 表观遗传修饰 糖皮质激素 胎儿生长受限 |
Adverse Pregnancy Outcome and Long-Term Harm of Alteration of HPA Axis in Offspring Caused by Exposure to Exogenous Substances during Pregnancy |
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| Abstract: | |
| Keywords: | |