单、双侧正中神经刺激法作额-顶导联SEP检测脑内病变的研究 |
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作者姓名: | 杨友松 郭富强 高国勋 刘英 |
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作者单位: | 四川省人民医院 |
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摘 要: | 本研究提示双侧刺激法作SEP异常检出率(87%),高于单侧法(76%),双侧法更适合检测脑叶病灶和小病灶。发现基底节区和顶叶是SEP早成分最重要的神经结构,丘脑皮质投射有两条不同的传导途径,故额—顶导联有助于鉴别脑内不同部位病灶,其倾向为基底节区病灶基本为额—顶SEP异常,中央沟前病灶多为额SEP异常,而中央沟后病灶大多为顶区SEP异常。SEP早成分异常不但与病灶部位有关,也与深感觉受损有关,病灶大小也影响SEP的完整性,纯运动障碍和浅感觉异常可以引起SEP晚成分的异常。
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关 键 词: | 双侧刺激,体感诱发电位,正中神经,额顶导联 |
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