磁共振弥散成像对短暂性脑缺血发作的预后判断

目的应用磁共振弥散成像（DWI）技术对短暂性脑缺血发作（TIA）患者进行头部影像学检查,探讨其对TIA的预后判断的意义。方法选取40例TIA患者于发病3d内及治疗2周后进行头部磁共振成像及DWI检查。结果治疗两周后未发展为缺血性脑卒中的患者的责任病灶阳性率明显低于入院时检查的责任病灶的阳性率,而发展为缺血性脑卒中的患者2周后复查检出责任病灶阳性率明显高于2周前。结论TIA患者在DWI上显示与新近缺血相关的病灶,DWI可作为评价TIA患者预后的检查手段。