4种参照系对重叠法头影测量结果的影响 |
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作者姓名: | 钟小龙 丁学强 姚惠 |
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作者单位: | 中山大学附属第一医院口腔科,广东,广州,510080 |
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摘 要: | 【目的】分析不同结构作参照系进行重叠法X线头影测量对测量结果产生的影响。【方法】20例Ⅱ类Ⅰ分类拔牙矫正患者治疗前后的X线头影侧位片,分别以①SN及S点,②Bolton平面和R点,③BaN及Pt点,④BaN及N点为参照系进行重叠分析颌面部结构的位置变化,观察不同参照系对同一患者测量结果的影响。【结果】4种参照系对同一患者测量得出结果各不相同(P<0.05),若以差别≥1mm定为有临床意义,大部分结果差别仍有临床意义。【结论】用重叠法作头影测量分析颌面部变化时,应考虑不同参照系对结果的影响。
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关 键 词: | 头影测量学 重叠法 颅底 颌骨 |
文章编号: | 1672-3554(2004)3S-0331-02 |
修稿时间: | 2004-03-12 |
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