中缝背核单位放电在唇针镇痛中的改变及其对麦角酰二乙胺(LSD)的反应(摘要) |
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引用本文: | 顾沨,印其章,于志铭,徐斌,端木肇夏.中缝背核单位放电在唇针镇痛中的改变及其对麦角酰二乙胺(LSD)的反应(摘要)[J].苏州大学学报(自然科学版),1982(1). |
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作者姓名: | 顾沨 印其章 于志铭 徐斌 端木肇夏 |
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作者单位: | 苏州医学院生理教研室,苏州医学院,苏州医学院,苏州医学院,苏州医学院 电生理研究室 研究生 |
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摘 要: | 大量研究资料证明,脑内5—羟色胺(5-HT)能神经元系统是实现针刺镇痛的重要因素。脑内5-HT能神经元系统的胞体主要集中于脑干的中缝核群。本实验用记录单位放电的方法,分析中缝背核神经元在唇针镇痛中的机能状态以及外周伤害性刺激与唇
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