LAmbre封堵器封堵左心耳后密封盘周围漏与封堵器相关血栓发生的关系

【摘要】 目的 探讨心房颤动（房颤）患者左心耳植入LAmbre封堵器后密封盘周围漏与封堵器相关血栓（DRT）发生的关系。方法 回顾性分析2018年5月至2021年6月在上海周浦医院接受LAmbre封堵器封堵左心耳治疗并完成经食管超声心动图复查的137例房颤患者，比较不同型号LAmbre封堵器植入后密封盘周围漏和DRT发生情况。结果 137例患者年龄为（74.9±9.2）岁，＞80岁（80～93岁）患者占40.1%，女性占38.7%，房颤血栓栓塞风险（CHA2DS2-VASc）评分、抗凝治疗出血风险评估（HAS-BLED）评分分别为（5.6±1.9）分、（2.7±1.6）分。左心耳植入LAmbre封堵器后1～3 mm密封盘周围漏最常见，仅1例植入3640型LAmbre患者密封盘周围漏为6 mm。比较植入不同型号封堵器后密封盘周围漏发生率，差异无统计学意义（P＞0.05）。封堵盘周围漏与DRT发生无相关性。 结论 心房颤动左心耳植入LAmbre封堵器后1～3 mm密封盘周围漏发生最常见，不同型号LAmbre封堵器间密封盘周围漏与DRT发生负相关。

The correlation between peridevice leak and device-related thrombus after left atrial appendage closure with LAmbre occluder