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短时低频电刺激体外培养许旺细胞髓鞘的形成
引用本文:万丽丹,丁文龙,李峰,夏蓉,朱浩,刘德明,林雪群. 短时低频电刺激体外培养许旺细胞髓鞘的形成[J]. 中国组织工程研究与临床康复, 2010, 14(45). DOI: 10.3969/j.issn.1673-8225.2010.45.013
作者姓名:万丽丹  丁文龙  李峰  夏蓉  朱浩  刘德明  林雪群
作者单位:1. 南昌大学医学院解剖学教研室,江西省南昌市,330006
2. 上海交通大学医学院解剖学教研室,上海市,200025
基金项目:上海市重点学科建设项目,南昌大学博士科研基金
摘    要:背景:周围神经系统损伤后,短时低频电刺激已被证明可显著促进轴突再生和选择性功能修复,但目前对电刺激是否影响周围神经髓鞘的形成还知之甚少,而电刺激发挥作用究竟是通过神经元还是许旺细胞还有待证实.目的:建立体外背根神经元与许旺细胞联合培养模型,观察短时低频电刺激对许旺细胞髓鞘形成的影响.方法:体外培养背根神经元,纯化后预先施予电刺激(20 Hz,100 μs,3 V),持续作用1 h,24 h后再加入许旺细胞悬液制成背根神经元/许旺细胞联合培养模型.在此基础上,用L-ascorbic acid诱导髓鞘形成,分别于诱导后第7,14天观察培养体系中髓鞘的形成.结果与结论:电刺激增强背根神经元分泌脑源性神经营养因子(P < 0.05),经电刺激作用的背根神经元再与许旺细胞联合培养,最终表现为髓鞘形成增多以及髓鞘蛋白表达上调(P < 0.05).提示短时低频电刺激对体外许旺细胞髓鞘的形成具有促进作用,初步认为该作用至少通过刺激神经元分泌脑源性神经营养因子增多导致.

关 键 词:电刺激  髓鞘  联合培养  背根神经元  许旺细胞  神经组织构建

Effect of short-term low-frequency electrical stimulation on myelin formation of Schwann cells in vitro
Wan Li-dan,Ding Wen-long,Li Feng,Xia Rong,Zhu Hao,Liu De-ming,Lin Xue-qun. Effect of short-term low-frequency electrical stimulation on myelin formation of Schwann cells in vitro[J]. Journal of Clinical Rehabilitative Tissue Engineering Research, 2010, 14(45). DOI: 10.3969/j.issn.1673-8225.2010.45.013
Authors:Wan Li-dan  Ding Wen-long  Li Feng  Xia Rong  Zhu Hao  Liu De-ming  Lin Xue-qun
Abstract:
Keywords:
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