多发性脑梗死患者头部CT所见病灶与局部脑葡萄糖代谢减低的关系

目的探讨局部脑葡萄糖代谢减低与脑梗死的关系。方法对2例多发性脑梗死患者的脑氧代脱氧葡萄糖正电子发射断层显像（F-FDG PET显像）与头部CT所见的低密度病灶进行对比分析。结果局部脑葡萄糖代谢减低与临床症状、体征相关,局部脑葡萄糖代谢减低部位较CT所示的病灶少。结论正电子发射断层显像（18F-FDG PET显像）可以为缺血性脑血管病的诊断和治疗提供依据,较头部CT所示病灶的临床相关性更好。