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| 短暂脑缺血发作与磁共振的研究 | |
| 引用本文： | 宋彧琳,董玉红.短暂脑缺血发作与磁共振的研究[J].中国医疗前沿,2009,4(4). |
| 作者姓名： | 宋彧琳 董玉红 |
| 作者单位： | 鞍山市长大医院脑血管病科,114005 |
| 摘 要： | 目的 对113例TIA患者进行磁共振影检查以研究其转归.方法 将113例TIA患者分为:A组:2周内无TIA发作;B组:2周内反复有TIA发作;C组:2周内发展为缺血性脑卒中.采用0.5 T超导永磁磁共振成像仪分别于住院时、住院后2周对患者成像扫描.结果 3组病人MRI检查结果在各个序列的责任病灶阳性率存在显著差异,其差别有统计学意义(P<0.05).2周后 A组阳性率明显降低;B组较2周前低近一半;C组所有病例均于不同序列出现改变.结论 TIA早期影像改变与其预后有显著相关性. |
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