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| 安氏Ⅱ类1分类错合Steiner臂章和Tweed分析法比较 | |
| 引用本文： | 伍协阶.安氏Ⅱ类1分类错合Steiner臂章和Tweed分析法比较[J].南华大学学报(医学版),1996(4). |
| 作者姓名： | 伍协阶 |
| 作者单位： | 衡阳医学院第二附属医院口腔科 |
| 摘 要： | 本文对５５例安氏Ⅱ类１分类错合患者的Ｘ线头颅侧位片分别做Ｓｔｅｉｎｅｒ臂章和Ｔｗｅｅｄ分析法比较，计算矫正下前牙位置所需间隙量，并分组进行统计学分析。结果表明：当ＳＮＡ和ＳＮＢ角均正常时，两者结果无差异；当ＳＮＡ或ＳＮＢ角异常时，Ｓｔｅｉｎｅｒ臂章分析法所需间隙量大于Ｔｗｅｅｄ分析法（Ｐ＜０．０５）。本文提示在矫治安氏Ⅱ类错 时不能单凭Ｓｔｅｉｎｅｒ或Ｔｗｅｅｄ分析法就制订出治疗方案。 |
| 关 键 词： | 下切牙位置，X线头影测量，Steiner臂章分析，Tweed分析 |
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