| 摘 要： | 目的:了解不同情绪面孔刺激下注意缺陷多动障碍(ADHD)患儿执行持续注意任务时的事件相关电位特征。方法:选取符合美国精神障碍诊断与统计手册第4版(DSM-IV)诊断标准的混合型ADHD患儿32例(年龄9~15岁)及年龄、性别匹配的正常对照组儿童32例,要求被试在高兴、中性、恐惧和愤怒等4种情绪面孔刺激随机呈现后执行注意与选择任务,同时记录事件相关电位。观察ADHD患者和正常对照组儿童面孔诱发的N170电位及靶刺激诱发的P300电位的特征。结果:ADHD组患儿在4种不同情绪面孔刺激下颞枕区面孔特异性N170波波幅均低于对照组[如恐惧面孔,(17.7±9.5)μv vs.(25.8±14.0)μv,P0.05],顶枕区P300潜伏期长于对照组[如恐惧面孔,[(454.2±51.3)ms vs.(433.0±29.8)ms,P0.05]。ADHD患儿组在四情绪面孔诱发的N170波幅和潜伏期差异无统计学意义(P0.05),诱发的P300在四种情绪刺激中以恐惧面孔刺激后执行注意任务的P300波幅最低,潜伏期最长。结论:ADHD儿童在4种不同情绪面孔刺激下,以恐惧面孔刺激引起的P300波幅最低,且P300潜伏期延长最明显。提示恐惧面孔可能影响ADHD患儿情绪调节,并影响其持续注意过程。
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