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| 短暂性脑缺血的电阻抗断层成像实验 | |
| 作者姓名： | 游宇 赵振伟 代萌 王樑 史学涛 徐灿华 李连峰 李维新 董秀珍 高国栋 |
| 作者单位： | 1. 第四军医大学唐都医院神经外科,功能性脑疾病研究所,西安,710038 2. 第四军医大学生物医学工程系 |
| 摘 要： | 电阻抗断层成像技术(electrical impedance tomography,EIT)是一门新兴的功能性成像技术[1-2],它利用不同组织之间或同一组织不同生理、病理状态下电阻率的差异,通过在生物体表施加安全的交流激励电流,同时测量体表电压的分布情况,再经图像重构算法得到体内某一截面内电阻率分布或其变化程度的图像. |
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