系统评价低强度半导体激光治疗正畸疼痛的有效性

目的:评价低强度半导体激光(LLLT)在治疗缓解正畸过程中疼痛有效性方面的研究。方法:通过计算机检索PubMed、Cochrane Library、Web of Science及ScienceDirect数据库关于LLLT治疗缓解正畸过程中疼痛的有效性随机对照临床试验的文献,并依据Cochrane操作员手册进行文献的筛选、提取资料数据及风险评估。应用RevMan 5.3版本的软件进行数据处理分析。结果:系统纳入10篇随机对照实验,1篇临床对照实验,共730名患者。通过Meta分析结果显示LLLT治疗可使正畸治疗后疼痛发生率减少25%RR=0.75,95%CI(0.67,0.84),P<0.000 01],与对照组相比,LLLT治疗使最大疼痛强度明显降低MD=-2.23,95%CI(-3.86,-0.59),P=0.008],并且使疼痛持续时间缩短MD=-2.28,95%CI(-2.77,-1.78),P<0.001]。结论:低强度半导体激光在治疗缓解正畸过程中疼痛具有良好效果,但由于纳入文献方法学缺陷和偏倚风险,还需要更多更好的证据去证明其有效性。

Efficacy of Low-Level Diode Laser Therapy on Orthodontic Pain Management:A Systematic Review and Meta-Analysis