|
|||||
|
|
| 先天性智力低下的细胞遗传学研究——脆性X染色体检测方法的探讨 | |
| 作者姓名： | 孙振宇 沈汝端 蔡芹芳 白若兰 |
| 作者单位： | 昆明医学院妇产科学 研究生(孙振宇)，昆明医学院妇产科学 导师(沈汝端，蔡芹芳，白若兰) |
| 摘 要： | 脆性X染色体综合症(简称脆X征)是近几年新发现的一种X连锁智力低下疾病,患者多为男性,他们都有明显的细胞遗传学标记,即在X染色体长臂末端有一个脆性位点(Xq27),使Xq28呈随体状。它 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
|
||||||||||||||||
|
||||||||||||||||
|
||||||||||||||||
|
|
|
|
| 设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏 |
|
Copyright©北京勤云科技发展有限公司 京ICP备09084417号 |